通过XRD图谱确定样品结构

样品材料的非晶、准晶和晶体三者的结构在XRD图谱上并无严格明晰的分界。在X射线衍射仪获得的XRD图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的"尖峰"（其半高度处的2θ宽度在 0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的"小宽度"）。如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm，可以称之为"微晶"。晶体的X射线衍射理论中有一个Scherrer公式：可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。非晶质衍射图的特征是：在整个扫描角度范围内（从2θ 1°~2°开始到几十度）只观察到被散射的X射线强度的平缓的变化，其间可能有一到几个大值；开始处因为接近直射光束强度较大，随着角度的增加强度迅速下降，到高角度强度慢慢地趋向仪器的本底值。从Scherrer公式的观点看，这个现象可以视为由于晶粒极限地细小下去而导致晶体的衍射峰极大地宽化、相互重叠而模糊化的结果。晶粒细碎化的极限就是只剩下原子或离子这些粒子间的"近程有序"了，这就是我们所设想的"非晶质"微观结构的场景。非晶质衍射图上的一个大值相对应的是该非晶质中一种常发生的粒子间距离。介于这两种典型之间而偏一些"非晶质"的过渡情况便是"准晶"态。意大利GNR公司是一家老牌欧洲光谱仪生产商，其X射线产品线诞生于1966年，经过半个多世纪的技术开发和研究，该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。可用于桌面的台式衍射仪ERUOPE、性价比超高的大功率衍射仪APD 2000 PRO、功能强大的多功能高分辨率X射线衍射仪EXPLORER，以及基于XRD在工业及冶金行业应用而专门研发的X射线残余应力分析仪STRESS-X、残余奥氏体分析仪AREX D等多种型号。而全反射X荧光光谱仪（TXRF）的检测限已达到皮克级别，其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中，涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业。ANALYTICAL INSTRUMENTS GROUP 通过 XRD 图谱确定样品结构 样品材料的非晶、准晶和晶体 三 者的结构在 XRD 图谱上并无严格明晰的分界。 在X射线衍射仪获得的 XRD 图谱上，如果样品是较好的"晶态"物质，图谱的特征是有若干或许多个 一般是彼此独立的很窄的"尖峰"(其半高度处的20宽度在 0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件 决定的晶体衍射峰的"小宽度")。如果这些"峰"明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm，可以称之为"微晶”。 晶体的X射线衍射理论中有一个 Scherrer 公式：：可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的 厚度。 非晶质衍射图的特征是：在整个扫描角度范围内(从201°~2°开始到几十度)只观察到被散射的×射 线强度的平缓的变化，其间可能有 一 到几个大值；开始处因为接近直射光束强度较大，随着角度的增加强 度迅速下降，到高角度强度慢慢地趋向仪器的本底值。 从 Scherrer 公式的观点看，这个现象可以视为由于晶粒极限地细小下去而导致晶体的衍射峰极大地宽 化、相互重叠而模糊化的结果。晶粒细碎化的极限就是只剩下原子或离子这些粒子间的"近程有序"了，这 就是我们所设想的"非晶质"微观结构的场景。非晶质衍射图上的一个大值相对应的是该非晶质中一种常发 生的粒子间距离。 介于这两种典型之间而偏一些"非晶质"的过渡情况便是"准晶"态。 意大利 GNR 公司是一家老牌欧洲光谱仪生产商，其X射线产品线诞生于1966年，经过半个多世纪 的技术开发和研究，该产品线已经拥有众多型号满足多个行业的分析需求。 可用于桌面的台式衍射仪 ERUOPE、性价比超高的大功率衍射仪 APD 2000 PRO、功能强大的多功能 高分辨率X射线衍射仪 EXPLORER， 以及基于 XRD 在工业及冶金行业应用而专门研发的X射线残余应 力分析仪 STRESS-X、残余奥氏体分析仪 AREX D 等多种型号。而全反射X荧光光谱仪 (TXRF)的检测 限已达到皮克级别，其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中，涉及环境、医药、半导体、核工业、石 油化工等行业。 CHINA