徕卡电镜样品制备之IC芯片篇

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检测样品: 电子元器件产品
检测项目: IC芯片
浏览次数: 21
发布时间: 2024-04-07
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本文采用徕卡三离子束切割仪TIC 3X的旋转抛光样品台制备IC芯片。

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广州领拓贸易有限公司为您提供《徕卡电镜样品制备之IC芯片篇》,该方案主要用于电子元器件产品中IC芯片检测,参考标准--,《徕卡电镜样品制备之IC芯片篇》用到的仪器有徕卡全自动三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X、徕卡Leica超景深视频显微镜DVM6