化合物半导体核壳结构纳米金属线中低加速电压SEM/STEM观察/EDX分析检测方案(扫描电镜)
半导体纳米金属线，因其物理特性可控，所以未来有望应用于光学器件上。尤其是异相聚合机构或者核壳结构的材料，富有多重物理特性，应用范围也会变得更广泛。图1是化合物半导体核壳结构纳米金属线的SE/STEM观察结果。图1(a)是二次电子图像显示了纳米金属线的表面形貌。图1(b)(c)的BF-STEM/DF-STEM图像，可以清楚观察到纳米金属先端的内部构造，可以确认核，内壳层和外壳层的三层结构。
图2是化合物半导体核壳结构纳米金属线的EDX面分布。核壳层和外壳层检测到Ga和As，内壳层检测到Al和As，能够清楚地分离出三层的结构的各种成分分布。SU9000与大立体检测角的X-MaxN 100TLE相结合，可实现超高空间分辨率的EDX面分布。
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铝镁合金中主量、微量及痕量元素检测方案(光电直读光谱)
铝是工业中应用最广泛的一类有色金属结构材料。在汽车用铝合金中，压铸铝合金制品在汽车用铝中约占54%～70%。且我国汽车销量已连续多年年占据世界第一，随着汽车市场竞争愈加激烈，各制造厂商都在向高质量、高可靠性、轻量化、节能环保、低成本方向发展，且随着汽车排放标准和国际环保政策的逐年加严，新能源汽车已成为未来汽车领域的重点发展方向，高强韧、高质量新能源汽车结构部件（汽车车身、立柱、底盘、减震塔等）也越来越多需要采用压铸成形工艺来进行制造。这些都说明，铝合金压铸在压铸行业内占有举足轻重的地位，是压铸行业的主流。随着汽车压铸铝体量的增加，传统手工测定方法已无法满足铝/铝合金的冶炼过程控制、加工、使用场合的快速精确测定需求。
针对此问题，钢研纳克生产的全新一代SparkCCD7000型火花直读光谱仪采用高分辨率线阵CCD作为检测器，实现全谱扫描，可以广泛适用于多种基体金属样品的全元素成分分析。其体积只相当于传统的采用光电倍增管作为检测器的火花光谱仪的1/3，无需增加硬件即可在现场增加分析元素或新的基体。其激发光源为激发能量、频率连续可调全数字光源，只需20s-30s，即可同时得到铝中多达几十种元素的精准化学成分。
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钢研纳克检测技术股份有限公司
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机械合金中研磨时研磨罐内部气体温度压力数据检测方案(研磨机)
气体压力和温度测试系统（GTM）是德国Fritsch公司与德国德累斯顿的弗朗霍夫应用材料研究所联合研制的，可用于测量研磨过程中的过程值。
该气体压力和温度测试系统（GTM）适用于在完全封闭的容器中批量研磨样品的任何领域。更加适用于制备新型非晶体材料和纳米晶体材料机械合金的研究领域。而且也可监控及最佳化工业领域的研磨操作。
通过测量行星式高能球磨机研磨腔室的温度，可获得操作过程中温度的积分曲线，可反映出摩擦力，撞击力效应及转化过程。通过持续高灵敏度的监测，可记录研磨腔室内发生反应的急剧变化和最小的变化。
气体压力的测量可描述研磨过程中气体表面产生的相互作用（气体吸附及解析）。首次实现了在绝热的过程（与系统间无热量交换）中“在线”观测急剧的相变。
该气体压力和温度测试系统（GTM）首次实现了无需花费大量的时间和昂贵的尝试性试验，即可获得研磨参数——转速，球料比及研磨时间对研磨结果的影响。精确的测量和记录反应时间可产生如下的效果，如准确地加入反应样品制备新型材料，或者化合材料制备具有独特机械化学性质的混合粉末样品。
本文重点介绍了如何使用德国Fritsch公司Pulverrisette 5四罐行星式高能球磨机和GTM气体温度压力测量系统系统，测量进行机械合金研磨时研磨罐内部气体温度压力数据。
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钛镍钯合金中相变测试检测方案(其它热分析仪)
敏感性材料领域的发展非常的迅速，记忆合金是其中讨论的非常多的一个方面。形状记忆合金（SMA）可以达到塑性的实质形变，通过加热，可促使其恢复到原来的形状。早期的应用，如：通过温度调节通风，从而调节温室的窗户开钩；由超弹性SMA制成的移动电话线，整个90年代，这一系列的应用呈现大量的增长。由于SMA的超弹性和形状记忆性能，SMA在医药行业的应用迅速发展，人们对此也越来越感兴趣。
详情请见：http://www.ngb-netzsch.com.cn/technics/applarticles/tinipa%20alloys.html
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铑灰中前处理检测方案(微波消解仪)
铑是一种银白色、坚硬的金属，具有高反射率。铑金属通常不会形成氧化物，熔融的铑会吸收氧气，但在凝固的过程中释放。钌、铑、钯、锇、铱、铂6个元素在地壳中的含量都非常少。这6个元素在化学上称作铂族元素，加上银和金，统称为贵金属。除了铂在地壳中的含量为亿分之五、钯在地壳中的含量为亿分之一外，钌、铑、锇、铱4个元素在地壳中的含量都只有十亿分之一。又由于它们多分散于各种矿石之中，很少形成大的聚集，所以价格昂贵。为了提取铑灰中的铑元素，我们采用微波消解的方法对铑灰样品进行前处理，ICP-MS进行后续的检测，通过铑元素的回收情况，选择最佳的消解参数。
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海能未来技术集团股份有限公司
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氧化铌中使塞贝克系数得以增强检测方案(导热仪)
利用密度泛函理论，分别用铌和氮填充氧化铌中的1a和1b空位后进行了系统的探索，设计出具有较大塞贝克系数的化合物。最主要的效应是在1b魏考夫位点填入氮后，塞贝克系数增加了5倍。这个结果可以从电子结构上理解，铌的非金属p轨道杂化引发量子约束，使塞贝克系数得以增强。通过测量反应溅射薄膜的塞贝克系数，可以验证这一点。使用Linseis的塞贝克系数/电阻测试仪LSR-3/1100同步测量了铌氧氮薄膜的塞贝克系数和电阻率。在800 °C这些导电氮氧化物的塞贝克系数为-70 μV/K，这是有史以来报道这些化合物中绝 对值最 大的。
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德国林赛斯热分析
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高纯度金属中定量分析检测方案(等离子体质谱)
激光剥蚀-ICP-MS (LA-ICP-MS) 可用于固体样品和粉末中的元素分析，其中包括地质材料、陶瓷、生物组织和法医样品。本研究使用两种校准策略（基质匹配和非基质匹配）对高纯度金属进行定量分析。LA-ICP-MS 可直接分析固体样品，因此与标准液体样品进样相比，固体样品只需极少的样品前处理步骤。由于无需溶出过程，降低了分析物损失的风险，也避免了引入污染物。但是，由于缺少固体校准标样，LA-ICP-MS 分析可能难以实现精确定量分析。用于固体样品分析的校准标样比用于液体样品分析的校准标样更难以制备，含合适浓度分析物的基质匹配的固体校准标样也比较少见。在金属行业等少数领域中可能已经获得特征明确的基质匹配标准品，因为电弧/火花或辉光放电 (GD) 光学发射光谱 (OES) 等成熟分析技术中使用固体标样。
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金属材料中微观结构检测方案(其它元素分析仪)
Abstract. This study investigates the changes in radial micro-texture via Kearn’s f-factors during single cold pilger reduction
of a titanium Ti-3-2.5 alloy as a result of strain path changes from tooling modifications. EBSD results confirm that the
texture intensity as well as the radial f-factors can be increased by modifications of pilgering tooling. In addition a switch
between the secondary prism planes which lie normal to the pilger direction in the starting tube to primary prism planes
after pilgering has been observed.
Material and Experimental
The tubes investigated were made from Ti alloy 3Al 2.5V, they were manufactured via hot extrusion and then cold pilgered.
The cold pilger process configuration is schematically shown in Figure 1. Two strain paths, shown in the ‘Q‘ factor chart in
Figure 2, were used in the manufactiure: texture minimised and texture maximised. They were annealed at 750oC before
being cold pilgered and for this investigation they were stress relieved at 530oC for 2 hours prior to EBSD examination.
Specimens were extracted from two regions either side of the reduced tube as shown in the schematic Figure 2, mounted
in conductive Bakelite and polished mechanically for EBSD examination. The final polish was carried out using vibratory
polishes using a mixture of 5:2 colloidal silica, hydrogen peroxide mixture. EBSD examination was conducted using a
FEGSEM and OI EBSD Nordlys detector and AZtec Software.
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牛津仪器科技（上海）有限公司
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