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金属样品中截面抛光检测产品配置单(扫描电镜)

  • 应用领域: 钢铁/金属
  • 检测样品: 有色金属
  • 检测项目:理化分析
  • 浏览次数:145 次
  • 下载次数:11 次
  • 发布时间:2017-11-22
  • 参考标准:
截面抛光是FIB主要用途之一。所谓截面抛光就是利用离子束将样品剖开观察内部的结构,从而分析样品内部的微观组织或缺陷。如下图所示,为了分析焊接界面处的产物,需要将焊接处剖开,从而可以对界面进行成份和晶体结构进行研究。
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       截面抛光是FIB主要用途之一。所谓截面抛光就是利用离子束将样品剖开观察内部的结构,从而分析样品内部的微观组织或缺陷。如下图所示,为了分析焊接界面处的产物,需要将焊接处剖开,从而可以对界面进行成份和晶体结构进行研究。

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