高低温冲击试验箱对芯片耐骤冷骤热破坏性实验

高低温冲击试验箱对芯片耐骤冷骤热破坏性实验 实验的目的：高低温冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。试验使用的仪器设备：置物架2层，固定支架8个。    实验过程：1．试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到指定点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。2．高温阶段结束后，在5imin内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。3．低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。4．重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。5．恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。6．最后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。 试验结果：全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。高低温冲击试验箱对芯片耐骤冷骤热破坏性实验 实 验的目的： 高低温冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材 料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间 内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 试验使用的仪器设备： 置物架2层，固定支架8个。 实验过程： 1.试验样品应按标准要求放置在试验箱内，并将试验箱(室)内温度升到指定点，保持一 定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。 2.高温阶段结束后，在 5imin 内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h 或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。 3.低温阶段结束后，在 5min 内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h 或者直至试验样品达到温度稳定，，以时间长都为准。 4.重复上述实验方法，以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略 有误差。 5.恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直 至试验 样品达到温度稳定。 6.最后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。 试 验结果： 全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监 测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更 改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定 值自动进行。