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    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 电子元器件
    • 检测项:超薄膜沉积
    • 浏览次数:31次
    • 下载次数:6次
    • 发布时间:2019-06-24
    • 参考标准: 薄膜均匀性检测
    • 3i分数:725

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