电子元器件高低温循环测试方法

电子元器件高低温循环测试方法：高低温循环测试(又名高低温循环试验、高低温试验等)主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。高低温循环测试是指设定温度从-50℃保持4个小时后，升温到 +90℃ ，然后，在+90℃保持4个小时，降温到-50℃，依次做N个循环。工业级温度标准为-40℃ ～+85℃，因为温箱通常会存在温差，为保证到客户端不会因为温度偏差导致测试结果不一致，内部测试建议使用标准温度±5℃温差来测试。在样品断电的状态下，先将温度下降到-50℃，保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，鞋本身就会产生+20°C以上温度，所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。进行老化测试，观察是否有数据对比错误。升温到+90，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持鞋内部的温度一直处于高温状态，高温和低温测试分别重复10次。如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态，则视为测试失败。