矿物中矿物学解决方案检测方案(扫描电镜)

X-Ray Count RateElemental Map thermoscientificOPTON MAPS Mineralogy 赛默飞全新自动化空间矿物学解决方案 赛默飞自动化空间矿物学解决方案 依托40年技术创新，实现大样品、快速空间矿物学和元素分析 MAPS Mineralogy 通过提供快速跟踪、定量空间矿物学和元素分析，帮助将岩石带回主流 E&P 工作流程，以帮助减少不确定性并改进改井解释。 基于SEM(扫描电镜)的自动矿物学测量、分析、解释、数据集成和报告技术，赛默默开发出一套全新的技术，称为MAPS Min-eralogyTM。这一全新采集平台可以采集、叠加、再配准不同模态的多种图像，如SEM(扫描电镜)、SEM-EDS(扫描电镜-能谱)、光学、CL(阴极荧光)、EBSD(电子背散射衍射)等。基于赛默飞I的MAPS采集和关联自动化软件，并利用行业标准的 QEM-SCANTM @ 测量算法， MAPS Mineralogy 引入了专利的新技术，不仅能够更准确地分析固溶体，而且提高了细粒材料以及其他边界相识别的准确度。 系统设置特性 MAPS MineralogyTM平台能够与硬件和软件实现无缝集成。它拥有直观的数据采集操作和简洁的测量设置特性，用户通过在感兴趣区域画选方框，并从下拉菜单中选择测量参数，就可以启动对样品的高效测量，用户也可以利用预先设置的工作流程，直接导入软件即可使用。 全新扫描方法 MAPS MineralogyTM数据采集采用专利的技术，在快速、低计数量 EDS(能谱)分析及逐点映射技术之上，还应用了一些比QEM-SCANQ更为先进的创新技术。在平铺区域内，EDS和BSE图像的分辨率可分别设置，例如， BSE图像分辨率可以高于EDS分辨率。MAPS MineralogyTM这一独立设置手段，通过集成高分辨率BSE图像和矿物分布图，强化了矿物和结构成像，尤其优化了微米尺度和亚微米尺度混合像素的准确识别。 ↑图1：某粉砂岩样品的MAPS MineralogyTM复合图像，矿物分布图像与高分辨率 BSE (背散射电子)图像叠加。 独特矿物识别技术 一幅图像中的一个像素可以用一个或多个矿物相进行定义、表现和定量，这种混合能谱像素象为MixelTM。针对细粒矿物互生或颗粒与孔隙的边界等复杂的岩石结构进行分辨和成像， MAPS Miner-alogyTM具有很大灵活性且自动化程度更高，而所有这些复杂结构信息都极具科研(成岩)和商业(储层性能)价值和重要性。 矿物表征以矿物物种形式呈现 对于长石、尖晶石和石榴石等一些本身存在化学成分差异的矿物，采用优化的矿物分类识别规则，不仅能以矿物大类的形式呈现，更能以矿物物种形式给出矿物信息。 MRE矿物库取代SIP 采用新方法取代之前的QEMSCAN@中的SIP，应用参考谱图和菜单的矿物库进行矿物识别。通过应用专利的全谱图去卷积“最佳匹配”方法，取代之前的第一匹配方法，矿物识别更加准确，无需对SIP进行精细调节或编辑。 ↑图2：某泥岩的MAPS MineralogyTM复合图像，图中显示矿物分布图与高分辨率BSE图像的叠加，同时显示原始能谱谱图。 多模态成像及分析 依靠独特的多模态方法，分析人员可以挑选最适合其应用的技术。用户不仅可以获得SEM-EDS图像，对于一些在亚微米尺度才能观察到的信息，通过采用合适的成像方法也可以捕捉到，例如高分辨率BSE或SE成像结合EDS成像(矿物和元素)，或者结合CL和EBSD获得结晶学特征。用户也可以导入外部分析得到的图像数据并进行联合配准，在一个工作区内就可以分析所有数据。 测量面积更大，空间分辨率更高 极高分辨率下的大面积区域自动映射和拼接技术开辟出新的可能性，凭借该项技术，我们可以在比常规岩相薄片更大的尺度上对岩心进行成像和互动。在新的设置及自动化测量工作流程中，加入了极具商业价值的重要功能，如样品中粘土类矿物的类型及其与孔隙衬边纹理的关系分析，可以获取更好的信息用于储层质量评价。 ↑图3：某粉砂岩岩心柱，揭示出复杂的结构，碎屑石英颗粒边缘镶嵌绿泥石衬边。某粉砂岩样品的MAPS MineralogyTM复合图像，矿物分布图像与高分辨率 BSE (背散射电子)图像叠加。 数据导出简单化 新的映射数据可以直接导入赛默飞最新款多尺度可视化软件Per-GeosTM， 进行更进一步的集成、解释和可视化。此外， MAPSMineralogyTM全部数据都能以开放格式、SQLite数据库格式访问，因而可以直接集成到第三方分析包中。 石油和天然气应用专门功能和优势 鉴于粘土类矿物通常具有复杂的结构、重叠的化学成分，结晶状态各异，且结构精细，无论采用何种地质分析，想要精确表征岩石中的粘土类矿物都是非常困难的。MAPS MineralogyTM可以对各个像素内的多种矿物相进行定量分析，因而在给出高分辨率BSE图像的同时可以提供更为准确的粘土分析和结构信息。 由于电子束分辨率的问题，通过SEM-EDS手段进行孔隙度估算一直以来都非常具有挑战性。我们采用高分辨率成像，结合SEM-EDS， 可以对碳酸盐和硅质中小到纳米级的孔隙进行可视化。 ↑图4：高分辨率 BSE(背散射电子)图像，通过 Quanta 650FEG 系统运行MAPS软件采集而成，分辨率为每像素50纳米，清晰分辨出碎屑石英颗粒边缘的绿泥石精细结构。 方解石、斜长石和石榴石等一些矿物本身的化学成分差异对于成岩、起源和井关联研究极具价值。将元素分布图与光学、CL或SEM图像进行关联，可以突出显示晶带和附晶生长。 图5：样品中绿泥石的分布情况，表明空间矿物学对于创建样品关键结构属性方面的重要功能。 欧波同(中国)有限公司 www.opton.com.cn 全国统一销售电话：400-1001-303 地址：北京市朝阳区惠河南街南岸一号义安门39-110 电话：400-1001-303传真：010-87777702E-mail： sale@opton.com.cn邮编：100021 基于SEM（扫描电镜）的自动矿物学测量、分析、解释、数据集成和报告技术，赛默飞开发出一套全新的技术，称为MAPS Mineralogy™。这一全新采集平台可以采集、叠加、再配准不同模态的多种图像，如SEM（扫描电镜）、SEM-EDS（扫描电镜-能谱）、光学、CL（阴极荧光）、EBSD（电子背散射衍射）等。基于赛默飞I的MAPS采集和关联自动化软件，并利用行业标准的 QEMSCAN™ ® 测量算法，MAPS Mineralogy 引入了专利的新技术，不仅能够更准确地分析固溶体，而且提高了细粒材料以及其他边界相识别的准确度。