蔡司钨灯丝扫描电镜ZEISS EVO MA 25/LS 25
蔡司钨灯丝扫描电镜ZEISS EVO MA 25/LS 25

¥200万 - 250万

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蔡司

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EVO MA 25/LS 25

--

欧洲

  • 白金
  • 第15年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

电子枪种类: 钨灯丝

产地类别: 进口

二次电子图象分辨率: 4.0nm@ 30KV(VP with BSD)

放大倍数: 5—1000000x

加速电压: 0.2—30KV

背散射电子图像分辨率: 3.0nm@ 30KV(SE and W)

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详细描述:


品牌:卡尔·蔡司

 型号:EVO MA 25

制造商:德国卡尔蔡司公司

 经销商:欧波同有限公司


 【品牌故事】 
        
世界顶级光学品牌,可见光及电子光学的领导企业----德国蔡司公司始创于1846年。其电子光学前身为LEO(里奥),更早叫Cambridge(剑桥),积扫描电镜领域40多年及透射电镜领域60年的经验,ZEISS电子束技术在世界上创造了数个第一:

    第一台静电式透射电镜 (1949) 
    
第一台商业化扫描电镜 (1965) 
    
第一台数字化扫描电镜(1985) 
    
第一台场发射扫描电镜(1990) 
    
第一台带有成像滤波器的透射电镜 (1992) 
    
第一台具有Koehler照明的 200kV 场发射透射电镜(2003) 
    
第一台具有镜筒内校正Omega能量滤波器的场发射透射电镜(2003)

     CARL ZEISS以 其前瞻性至臻完美的设计融合欧洲至上制造工艺造就了该品牌在光电子领域无可撼动的王者地位。自成立至今,一直延续不断创新的传统,公司拥有电镜制造最核心 最先进的专有技术,随着离子束技术和基于电子束的分析技术的加入、是全球唯一为您提供钨灯丝扫描电镜、场发射扫描电镜、双束显微镜(FIB and SEM)、透射电子显微镜等全系列解决方案的电镜制造企业。其产品的高性能、高质量、高可靠性和稳定性已得到全世界广大用户的信赖与认可。作为全球电镜标准缔造者的CARL ZEISS将一路领跑高端电镜市场为您开创探求纳米科技的崭新纪元。

【总体描述】
               EVO系列电镜是高性能、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微镜。EVO MA 25用于材料领域,LS 25用于生命科学领域。该系列电镜采用多接口的大样品室和艺术级的物镜设计,提供高低真空成像功能,可对各种材料表面作分析,并且具有业界领先的X射线分析技术。Beamsleeve的设计,确保在低电压条件下提供高分辨率的锐利图像,同时还可以进行准确的能谱分析。样品台为五轴全自动控制。标准的高效率无油涡轮分子泵能够满足快速的样品更换和无污染(免维护)成像分析。

【技术参数】
   
  分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W) 、4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
     加速电压:0.2—30KV
     放大倍数:5—1000000x
     探针电流:0.5PA-5μA
     X-射线分析工作距离:8.5mm 、35度接收角
     低真空压力范围:10—400Pa (LS25:10-3000Pa)
     工作室:420mm(φ)×330mm(h)
     5轴试样载物台:X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°
     最大试样高度:210mm,试样最大直径:300mm
     系统控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系统
     存储分辨率:32,000 × 24,000 pixels

【主要特点】
    
最大的样品高度可达210mm  
     
最大样品重量5Kg  
     
最大的样品直径300mm  
     
能在可变压力下操作 
     
高亮度LaB6资源选择 
     
光线套选择

【产品应用】
       扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等 检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分 析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶 粒取向测量。


  • 电子束感生电流 (EBIC) 技术可通过测量样品或设备暴露于电子束时流动的电流,对半导体材料和设备的局部电气性能进行表征。 电子束射到半导体上时,会形成电子空穴对。如果载流子(即上文所述的电子空穴对)扩散到带有内置电场的区域,则电子和空穴将分离,电流将流 动。当电流流动到外电路时,EBIC 技术会测量该电流。在没有重组中心(自由电子和空穴湮没的位置)的材料中,收集到的电流将是均匀的,而且并 不相关。然而,引发电子和空穴重组的样品区域减少了收集电流,造成 EBIC 图中形成对比,因此揭示了半导体样品中(少数)载流子的流动。

    材料 2016-07-07

  • 对于一个具有综合分析能力的高水平电镜室,样品制备技术非常重要,这是扫描电镜充分发挥功能的前提。本文简述了扫描电镜和微区成分分析的样品制备知识和方法,涉及样品的镶嵌、清洁、磨抛以及相应的制备设备等方面,对于样品制备常见问题进行了简略分析。

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  • 采用金相检验、扫描电镜及能谱分析对某焊接件弯曲开裂试样进行开裂原因分析。结果表明,在焊接交接部位的金属夹杂、非金属夹杂物和气孔的存在,致使弯曲试样在结晶收缩应力和焊接残余应力以及外部拉应力的作用下发生开裂。

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  • 对轧制复合铝合金/不锈钢双层复合材料进行不同温度和时间的退火,借助 Zeiss Ax10 金相显微镜、 扫描电镜、EDAX 能谱仪和 D-max X 射线衍射仪对复合界面结合区进行金相组织观察、元素成分线扫描分析、界面化合物EDS 分析及 XRD 物相鉴定,研究复合界面上金属间化合物的生长行为。结果表明:复合界面金属间化合物(IMC)主要为 Fe2Al5相,当退火温度达 773 K 时,Fe2Al5已在界面上生成;随退火时间的延长, Fe2Al5的增厚符合抛物线法则;界面金属间化合物Fe2Al5的生长激活能为162.3 kJ/mol,并获得其生长动力学模型,通过此模型可对化合物层厚度进行初步计算。

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    0MB 2015-05-27
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