高分辨率场发射扫描电镜ΣIGMA HD/VP
高分辨率场发射扫描电镜ΣIGMA HD/VP

¥300万 - 400万

10.0

蔡司

暂无样本

ΣIGMA HD/VP

--

欧洲

  • 白金
  • 第15年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

电子枪种类: 冷场发射

二次电子图象分辨率: 1.0nm@15KV 1.9nm @ 1 KV 2.0nm @30KV (VP mode)

放大倍数: 10-1,000,000x

加速电压: 0.02 - 30 KV

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品牌:卡尔·蔡司

 型号:ΣIGMA HD/VP

 制造商:德国卡尔蔡司公司

 经销商:欧波同有限公司

免费咨询电话:800-8900-558




【品牌故事】 
        
世界顶级光学品牌,可见光及电子光学的领导企业----德国蔡司公司始创于1846年。其电子光学前身为LEO(里奥),更早叫Cambridge(剑桥),积扫描电镜领域40多年及透射电镜领域60年的经验,ZEISS电子束技术在世界上创造了数个第一:

    第一台静电式透射电镜 (1949) 
    
第一台商业化扫描电镜 (1965) 
    
第一台数字化扫描电镜(1985) 
    
第一台场发射扫描电镜(1990) 
    
第一台带有成像滤波器的透射电镜 (1992) 
    
第一台具有Koehler照明的 200kV 场发射透射电镜(2003) 
    
第一台具有镜筒内校正Omega能量滤波器的场发射透射电镜(2003)

        CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的设计融合欧洲至上制造工艺造就了该品牌在光电子领域无可撼动的王者地位。自成立至今,一直延续不断创新的传统,公司拥有电镜制造最核心最先进的专有技术,随着离子束技术和基于电子束的分析技术的加入、是全球唯一为您提供钨灯丝扫描电镜、场发射扫描电镜、双束显微镜(FIB and SEM)、透射电子显微镜等全系列解决方案的电镜制造企业。其产品的高性能、高质量、高可靠性和稳定性已得到全世界广大用户的信赖与认可。作为全球电镜标准缔造者的CARL ZEISS将一路领跑高端电镜市场为您开创探求纳米科技的崭新纪元。

【总体描述】

         蔡司最新推出的ΣIGMA HD/VP是一款高分辨率场发射扫描电子显微镜,拥有第三代GEMINI镜筒,可变压强性能加上多种纳米工具的使用,不用花费大量时间,使高分辨率成像和非导体样品的分析成为可能,该场发射电镜适用于材料领域、失效分析、过程控制、纳米技术等。ΣIGMA HD/VP超大的样品室适合各种类型探头及配件的选择。

【技术参数】
技术参数:
分辨率: 1.0nm@15KV 1.9nm @ 1 KV      

        2.0nm @30KV (VP mode) 

放大倍数: 10-1,000,000x 

加速电压: 0.02 - 30 KV 

探针电流: 4 pA - 20 nA (12pA-100nA 可选) 

样品室: 358 mm (φ) x 270 mm (h) 

样品台: 5轴优中心全自动    

        X = 130mm Y = 130 mm Z = 50mm    

        T = -3 to 70°( -10 to 90°)    

        R = 360°连续旋转 

系统控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制。


  • 利用MTS-810疲劳试验系统进行高周疲劳试验,研究新型热轧NB-Ti微合金化抗拉强度700MPa级车厢板和780MPa级大梁的疲劳性能,探讨晶粒尺寸、第二相(析出物、夹杂物)等对疲劳性能的影响机理。

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  • 为精确控制热轧780Mpa级NB-Ti微合金化C-Mn钢中的纳米析出物(Nb,Ti)C,利用热力模拟实验技术,通过投射电镜观察及统计分析,研究形变及冷却速率对纳米析出的影响规律。

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  • 在满足性能要求和少添加高价合金元素的前提下, 以开发出高贮氢性能及可适应后期多元化涂搪工艺为目的, 开发出一种含钛低碳冷轧搪瓷用钢。对搪瓷钢不同状态的组织和性能进行了研究, 获得了第二相粒子的析出规律、涂搪前后的晶粒尺寸及析出物的变化规律及退火工艺对强度的影响规律。对钢板的氢渗透时间进行了测定, 试验结果与随后的涂搪试验吻合。搪瓷用钢的室温组织为铁素体, 涂搪后晶粒有一定程度的长大; 钢板中弥散粗大的第二相粒子 T i4C2 S2 是提高钢板贮氢性能的主要因素。730 ?? 保温5h 退火后, 氢渗透时间 tb 大于 18min,氢扩散系数 D 小于 0. 44?? 10- 6 cm2/ s; 钢板与涂层具有良好的密着性, 可承受 110g 钢球在2 m 高度自由落体的冲击。

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牛津仪器科技(上海)有限公司
布鲁克电子显微纳米分析仪器部
大和电子科技株式会社

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