电子枪种类: 冷场发射
二次电子图象分辨率: 0.4nm(30KV)
放大倍数: 高:800-3,000,000x
加速电压: 0.5-30KV(标准模式)
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| 项目 | 技术指标 | |||
| 二次电子分辨率 | 0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍) | |||
| 1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍) | ||||
| STEM分辨率 | 0.34nm(加速电压30kV,晶格象) | |||
| 观测倍率 | 底片输出 | 显示器输出 | ||
| LM模式 | 80~10,000x | 220~25,000x | ||
| HM模式 | 800~3,000,000x | 2,200~8,000,000x | ||
| 样品台 | 侧插式样品杆 | |||
| 样品移动行程 | X | ±4.0mm | ||
| Y | ±2.0mm | |||
| Z | ±0.3mm | |||
| T | ±40度 | |||
| 标准样品台 | 平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH | |||
| 截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH | ||||
| 专用样品台 | 截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH | |||
| 双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH | ||||
| 信号检测器 | 二次电子探测器 | |||
| TOP 探测器(选配) | ||||
| BF/DF 双STEM探测器(选配) | ||||
| 名称 | 荣誉类型 | 级别 | 认证年份 | 有效期 | 发布单位 | 来源 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 2011年2011年优秀新品奖 | 平台奖项(3i奖) | 平台级 | 2011 | - | 仪器信息网 | 仪器及检测3i奖 |
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