日立L型FIB-SEM-Ar三束系统NX9000
日立L型FIB-SEM-Ar三束系统NX9000

¥700万 - 1500万

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日立

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NX9000

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亚洲

  • 钻石
  • 第22年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
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产品介绍:

NX9000可以自动重复进行FIB制备截面和扫描电镜观察,能够获得一系列的截面图像,从而实现特定显微切片的三维结构分析。NX9000中的SEM镜筒和FIB镜筒呈正交结构,而不是常见的对角构造。这种形式是进行三维结构分析最理想的结构,能够稳定收集准确反映样品的真实结构的图像。

 

主要特点:

1. 高分辨SEM冷场发射电子枪1.6nm@15kV,高衬度成像

2. SEM和FIB镜筒垂直,能进行更真实的三维结构分析

3. 可实现观察加工过程

4. 全自动TEM样品制备

5. 高精度加工

6. 可选Ar和Xe离子源


应用领域

 

1. 新材料

2. 纳米材料

3. 电子元器件研发

4. 生物结构研究



技术参数




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牛津仪器科技(上海)有限公司
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