电镜专用微区成分分析---牛津仪器Ultim Max能谱仪
牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱
牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器
牛津EBSD，牛津EBSD衍射仪，牛津CMOS-EBSD探测器，电子背散射衍射
DECTRIS MYTHEN2光子计数X射线衍射仪探测器
布鲁克 QUANTAX EDS 能谱仪(TEM/STEM)
布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM/SEM-FIB/EPMA用
动量显微光电子能谱仪/MM-ARPES/国产
DECTRIS MYTHEN光子计数X射线探测器
高精度电子注功能分析仪/电子注分析系统
布鲁克 平插式能谱仪FlatQUAD
能量色散X射线荧光光谱仪
能量色散谱仪Gather-X
动量显微光电子能谱仪/MM-ARPES/国产
布鲁克 QUANTAX 能谱仪
牛津 元素分析仪 Xplore
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分类小贴士
X射线能谱仪（EDS）是一种用于分析物质成分的仪器。它利用由激发物质所释放出来的能量，测量不同元素所发射出来的特征X射线谱线，从而确定物质样品的组成。 EDS通常作为扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）的附件使用。SEM或TEM通过扫描或照射样品表面，产生电子和X射线，而EDS则在样品表面收集这些X射线，并将其转换为电信号。这些信号可以通过计算机处理和显示，以确定样品中存在的元素种类、数量和分布。 EDS主要应用于材料分析、地质学、化学等领域。它可以分析各种材料，包括金属、合金、陶瓷、生物材料等。在材料科学领域，EDS常用于分析材料成分、晶体缺陷、化学反应等问题。此外，EDS还可以应用于矿物鉴定、环境污染监测等方面。
X射线能谱仪选型心得 更多
一检面
赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪的使用
仪器心得 赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪的使用 赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。 一、仪器的使用范围1、针对样品元素组成的初筛分析，对于未知样品，利用K-Alpha X 射线光电子能谱仪系统对样品进行全谱扫描，初步判断样品表面的元素组成；然后根据全谱扫描确定目标元素的窄区扫描能量范围，对其进行高分辨细扫描，从而获得其准确的结合能位置。2、对样品本身化学态分析，K-Alpha X 射线光电子能谱仪系统可通过测定内层电子的化学位移来推知原子的结合状态和电子分布状态等信息，从而检测出样品本身的化学性质和其对应材料的性质。3、样品中元素含量的半定量分析，K-Alpha X 射线光电子能谱仪系统，不仅可用于定性分析（元素组成及化学态分析），由于其峰强度与元素含量之间具有一定的相关性，通过测量光电子峰的强度还可以对元素进行定量分析，目前而言只将 XPS 用于元素的半定量分析。二、设备使用心得 K-Alpha X 射线光电子能谱仪系统的使用不仅可以检测样品的元素组成成分，而且可以分析检测出元素的化学性质，特别是对于一些新型材料的检测，设备使用比较便捷，样品处理比较简单，结果分析清楚明确，很适合样品未知元素的筛选及半定量分析。三、设备的优缺点赛默飞K-Alpha X 射线光电子能谱仪的优点明确样品测试过程和设备使用维护的过程比较简单，测试领域及对象比较广泛，适合多种不同材料样品的检测，设备缺点就是配置使用的软件命令操作步骤比较繁琐，操作过程中需多步操作才可以执行，希望优化。
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“如何得到更真实、更理想的EDS能谱面分布图——牛津AZtec软件的使用心得与技巧”
EDX能谱分析是一种十分重要的微区成分分析手段，但对于存在能谱谱峰互相重叠的元素，其面分布数据可能存在混淆甚至错误的情况。牛津公司的EDS能谱软件AZtec中的TruMap功能可以成功解决这一问题，通过在构建面分布数
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