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上海艾尧科学仪器有限公司

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金牌8年

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原子力显微镜纳米压痕仪晶圆缺陷光学检测设备薄膜应力测试仪光学薄膜测量

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全部优选仪器

晶圆厚度TTV、翘曲Bow/Warp、粗糙度测量系统

品牌：艾尧仪器

型号： XW-A300

产地：台湾

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荷兰Fastmicro颗粒沉降监测仪

品牌： Fastmicro

型号： FM-PS-PFS-V01

产地：荷兰

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Onto晶圆表面缺陷检测仪

品牌：儒米娜

型号： PrimaScan

产地：美国

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瑞士idonus紫外光刻曝光机

品牌： IDONUS

型号： PLX

产地：瑞士

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荷兰SCIL纳米压印机

品牌： SCIL

型号： LabSCIL

产地：荷兰

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日本Elionix电子束曝光机

品牌： ELIONIX INC.

型号： ELS-F125

产地：日本

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美国FSM薄膜应力测试仪

品牌： FSM

型号： FSM128, FSM500

产地：美国

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荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测仪

品牌： Fastmicro

型号： FM-PDS

产地：荷兰

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DMD无掩膜光刻机

品牌：艾尧仪器

型号： LithoMaskless

产地：韩国

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CMP化学机械抛光机

品牌： CTS

型号： AP200

产地：韩国

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德国Osiris晶圆CMP后清洗机

品牌： Osiris

型号： CHEMIXX CMP

产地：德国

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德国G&N晶圆研磨机/减薄机

品牌： G&N

型号： MPS R400CV

产地：德国

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Noivion脉冲电子沉积镀膜

品牌： Noivion

型号： Lab Jet

产地：捷克

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Candela光学表面缺陷检测仪

品牌： KLA

型号： Candela

产地：美国

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美国KLA四探针方阻测试仪

品牌： KLA

型号： R50

产地：美国

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Park AFM原位纳米探针台

品牌： IMINA

型号： FX200-miBot

产地：瑞士

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Park NX-Mask光掩模修复原子力显微镜

品牌： Park 原子力

型号： NX-Mask

产地：韩国

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Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜

品牌： Park 原子力

型号： NX-Hybrid WLI

产地：韩国

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玻璃基板TGV通孔检测系统

品牌： PIE

型号： GAVI

产地：韩国

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瑞士LynceeTec MEMS振动分析仪

品牌： Lyncee Tec

型号： DHM-MEMS

产地：瑞士

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Onto晶圆碳氧含量测量机台

品牌：艾尧仪器

型号： Element G2

产地：马来西亚

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Onto晶圆OCD及薄膜量测机台

品牌：艾尧仪器

型号： IRIS S

产地：马来西亚

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Onto晶圆FTIR外延层厚度测量仪

品牌：艾尧仪器

型号： Element S

产地：马来西亚

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Onto晶圆AOI光学检测机台

品牌：艾尧仪器

型号： Dragonfly® G3

产地：马来西亚

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Onto声学薄膜厚度测量系统

品牌：艾尧仪器

型号： Echo

产地：马来西亚

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韩国ULTECH RTP快速退火炉

品牌： ULTECH

型号： REAL RTP-200

产地：韩国

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荷兰TeraNova光栅尺寸测量仪

品牌： TeraNova

型号： LabScatter

产地：荷兰

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SiC碳化硅晶锭外径滚圆机

品牌： Logomatic

型号： Q2/Q2+

产地：德国

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德国E+H晶圆厚度及电阻率测量仪

品牌： E+H Metrology

型号： MX608

产地：德国

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公司地址：浦东新区建韵路500号联系人：张经理 13818193473 邮编： 201318 联系电话： 400-616-7676转1611

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