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上海艾尧科学仪器有限公司
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晶圆厚度TTV、翘曲Bow/Warp、粗糙度测量系统

晶圆厚度TTV、翘曲Bow/Warp、粗糙度测量系统
品牌： 艾尧仪器
型号： XW-A300
产地： 台湾
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Onto晶圆OCD及薄膜量测机台

Onto晶圆OCD及薄膜量测机台
品牌： 艾尧仪器
型号： IRIS S
产地： 马来西亚
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荷兰TeraNova光栅尺寸测量仪

荷兰TeraNova光栅尺寸测量仪
品牌： TeraNova
型号： LabScatter
产地： 荷兰
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德国E+H晶圆厚度及电阻率测量仪

德国E+H晶圆厚度及电阻率测量仪
品牌： E+H Metrology
型号： MX608
产地： 德国
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上海艾尧科学仪器有限公司为您提供4台关键尺寸测量，包括晶圆厚度TTV、翘曲Bow/Warp、粗糙度测量系统，德国E+H晶圆厚度及电阻率测量仪，荷兰TeraNova光栅尺寸测量仪， 不管是关键尺寸测量原理、参数，还是关键尺寸测量价格、型号都可咨询，公司客服电话400-616-7676,1611。

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