纳米材料检测

检测项：生长和表征

牛津仪器科技（上海）有限公司

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牛津仪器TeslatronPT无液氦磁体低温系统

外设/附件 TeslatronPT

牛津仪器Asylum Research大样品原子力显微镜JupiterXR

检测仪器 Jupiter XR

电镜专用自动清洁度分析系统---牛津仪器AZtecFeature

检测仪器 AZtecFeature

牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱

检测仪器 Ultim Extreme

牛津仪器门控探测器Andor iStar

检测仪器 iStar

材料中扫描电镜在材料过程控制中的应用检测方案(扫描电镜)

检测项：扫描电镜在材料过程控制中的应用

北京欧波同光学技术有限公司

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赛默飞（FEI）Axia ChemiSEM 智能型钨灯丝扫描电镜

检测仪器 Axia ChemiSEM

Apreo 2超高分辨场发射扫描电镜

检测仪器 Apreo 2

赛默飞（原FEI）Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜

检测仪器 Helios 5 DualBeam

赛默飞（原FEI）Scios 2 DualBeam 双束扫描电镜

检测仪器 Scios 2 DualBeam

赛默飞 Talos F200X S/TEM 透射电子显微镜

检测仪器 Talos F200X S/TEM

宽束氩离子抛光系统Gatan 697 Ilion II

检测仪器 697 Ilion II

球磨机用于研究低碳多内璧纳米管的结果

检测项：球磨机研磨

北京飞驰科学仪器有限公司

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德国FRITSCH（飞驰）P0 微型振动研磨机/仪

前处理设备 PULVERISETTE 0

德国FRITSCH（飞驰）P5 四罐行星式球磨机/仪

前处理设备 PULVERISETTE 5

德国FRITSCH P4 可变速率比行星式球磨机/仪

前处理设备 PULVERISETTE 4

纳米材料中单颗粒检测方案(等离子体质谱)

检测项：单颗粒

安捷伦科技(中国)有限公司

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Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪

检测仪器 7900

纳米颗粒 (NP)中颗粒大小（粒度）及其分布检测方案(等离子体质谱)

检测项：颗粒大小（粒度）及其分布

安捷伦科技(中国)有限公司

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Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪

检测仪器 7900

MoS2中层数分析检测方案(激光拉曼光谱)

检测项：层数分析

HORIBA（中国）

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QCM-D对纳米粒子的研究

检测项：

瑞典百欧林科技有限公司

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QSense卓越版四通道石英晶体微天平

检测仪器 Analyzer

QSense Explorer扩展版石英晶体微天平

检测仪器 Explorer

QSense全自动八通道石英晶体微天平

检测仪器 Pro

碳纳米管中纳米结构检测方案

检测项：纳米结构

佳士科商贸有限公司

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JASCORMP-500便携激光拉曼分光光度计

检测仪器 RMP-500

jascoRFT-6000傅立叶变换红外拉曼光谱仪

检测仪器 RFT-6000

JASCONRS5000/7000共聚焦激光拉曼光谱仪

检测仪器 NRS-5000/7000

碳纳米管及纳米材料中碳纳米管样品改性前后的表面元素组成及化学态信息检测方案(X光电子能谱)

检测项：碳纳米管样品改性前后的表面元素组成及化学态信息

赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)

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纳米材料中10 nm 金纳米颗粒检测方案(等离子体质谱)

检测项： 10 nm 金纳米颗粒

安捷伦科技(中国)有限公司

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Agilent 8900 ICP-MS/MS

检测仪器 8900

纳米材料中10 nm 金纳米颗粒检测方案(等离子体质谱)

检测项： 10 nm 金纳米颗粒

安捷伦科技(中国)有限公司

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纳米材料中SiO2 纳米颗粒检测方案(等离子体质谱)

检测项： SiO2 纳米颗粒

安捷伦科技(中国)有限公司

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Agilent 8900 ICP-MS/MS

检测仪器 8900

流场流动分离耦合ICPMS用于检测和表征纳米银粒子

检测项：

珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司

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等离子质谱仪PerkinElmer

检测仪器 NexION

单分散Fe3O4纳米颗粒中TEM超快制备检测方案(微波合成仪)

检测项： TEM超快制备

安东帕(上海)商贸有限公司

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安东帕微波合成仪Monowave400

前处理设备 Monowave 400

碳纳米管中手性结构分析检测方案(激光拉曼光谱)

检测项：手性结构分析

HORIBA（中国）

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HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统

检测仪器 XploRA Nano

碳纳米管中手性指认和含量测定检测方案(激光拉曼光谱)

检测项：手性指认和含量测定

HORIBA（中国）

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单壁碳纳米管中光致发光光谱检测方案(分子荧光光谱)

检测项：光致发光光谱

HORIBA（中国）

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HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪

碳纳米管中信噪比检测方案(分子荧光光谱)

检测项：信噪比

HORIBA（中国）

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HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪

单壁碳纳米管中光致发光，发射光谱，激发光谱检测方案(分子荧光光谱)

检测项：光致发光，发射光谱，激发光谱

HORIBA（中国）

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HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪

碳纳米管中三维激发-发射矩阵扫描检测方案(分子荧光光谱)

检测项：三维激发-发射矩阵扫描

HORIBA（中国）

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HORIBA NanoLog®近红外荧光光谱仪

碳纳米管中结构（手性等），化学性质检测方案(激光拉曼光谱)

检测项：结构（手性等），化学性质

HORIBA（中国）

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CEM微波合成技术为纳米科学研究者提供更佳的研究平台

检测项：

培安有限公司

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CEM Discover 2.0 300mL腔体环形聚焦单模微波合成仪

前处理设备 Discover 2.0(单模）

纳米材料中冻干检测方案(冷冻干燥机)

检测项：冻干

东南科仪

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日本EYELA FDU-2110冷冻干燥机

外设/附件 FDU-2110

纳米材料中冻干研究检测方案(冷冻干燥机)

检测项：冻干研究

东南科仪

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日本EYELA FDU-2110冷冻干燥机

外设/附件 FDU-2110

单壁碳纳米管，量子点，OLED中荧光检测方案(分子荧光光谱)

检测项：荧光

HORIBA（中国）

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HORIBA Fluorolog®-3科研级荧光光谱仪

检测仪器 Fluorolog®-3

氧化铌薄膜中制备工艺检测方案(喷雾干燥机)

检测项：制备工艺

来亨科技（北京）有限公司

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来亨L-217实验型喷雾干燥机

前处理设备 L-217

功能化碳纳米管中性质研究检测方案(电化学工作站)

检测项：性质研究

天津市兰力科化学电子高技术有限公司

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天津兰力科电化学工作站LK98BII

检测仪器 LK98B II型

TeO2/TiO2 纳米复合物中水热合成及性质检测方案(电化学工作站)

检测项：水热合成及性质

天津市兰力科化学电子高技术有限公司

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LK2005A电化学工作站

检测仪器 LK2005A

芦丁中碳纳米管修饰电极上的电化学性质检测方案(电化学工作站)

检测项：碳纳米管修饰电极上的电化学性质

天津市兰力科化学电子高技术有限公司

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LK2005A电化学工作站

检测仪器 LK2005A

纳米材料中分子振动信息，分子结构检测方案(激光拉曼光谱)

检测项：分子振动信息，分子结构

北京富尔邦科技发展有限责任公司

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