基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪
基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪

$60万

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JMS-S3000 SpiralTOF

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亚洲

  • 金牌
  • 第21年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数
JMS-S3000基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪,采用日本电子独自研发的SpiralTOF模式离子光学系统,它创新的技术在学术界已广为人知,其超高的质量分辨率和超高的质量准确度,遥遥领先于传统的装置。最为重要的是这种高分辨率的获得,并不以牺牲灵敏度为代价。本装置领军质谱分析最新技术,特别是在合成高分子、材料化学、生物高分子领域满足了日新月异的科技发展和研究需求。
质谱工作模式:
标准模式 TOF
线性模式 TOF(选配件)
串联模式TOF/TOF (选配件)
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