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基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪

产品详情

基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪

基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪
参考报价:
 600000元 USD (美元)
型号:
 JMS-S3000 SpiralTOF
品牌:
 --
产地:
 日本
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
分享:
400-860-5168转0507
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产品简介
JMS-S3000基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪,采用日本电子独自研发的SpiralTOF模式离子光学系统,它创新的技术在学术界已广为人知,其超高的质量分辨率和超高的质量准确度,遥遥领先于传统的装置。最为重要的是这种高分辨率的获得,并不以牺牲灵敏度为代价。本装置领军质谱分析最新技术,特别是在合成高分子、材料化学、生物高分子领域满足了日新月异的科技发展和研究需求。
质谱工作模式:
标准模式 TOF
线性模式 TOF(选配件)
串联模式TOF/TOF (选配件)
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  • 产品分类
400-860-5168
分机号:0507
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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100507/