200kV场发射透射电子显微镜
200kV场发射透射电子显微镜

$150万

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日本电子

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JEM-2100F

亚洲

  • 金牌
  • 第21年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

仪器种类: 场发射

分辨率: 0.19nm(点分辨率)

加速电压: 200kV

放大倍率: ×100 to 1,500,000

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仪器简介:
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。

JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。

SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。



技术参数:
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm


主要特点:
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。

6.最新升级型号为JEM-F200,可全自动进出样品杆,智能操作smart

典型用户
用户单位 采购时间
中国科学院理化研究所 2008-10-15
中国科学院大连化物所 2013-05-06
中科院宁波材料技术与工程研究所 2012-09-01
中国科学院物理研究所 2012-04-02
中国科学院生态所 2011-11-01
中国科学院山西煤化所 2011-08-01
中国科学院化学研究所 2011-12-25
吉林大学 2011-06-02
上海交通大学 2009-05-06
西安交通大学 2010-09-30
中国科学院金属研究所 2010-04-01
北京大学化学学院 2008-01-15
售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 3人技术中心培训

免费仪器保养: 每年一次

保内维修承诺: 全免

报修承诺: 快速到达

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