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日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000

  • 型号 SU9000
  • 产地 日本
  • 样本 暂无
  • 品牌日立

核心参数

  • 二次电子图象分辨率0.4nm@30kV,1.2nm@1kV
  • 加速电压0.5~30kV
  • 放大倍数220~8,000,000
  • 仪器种类 场发射

日立高新技术公司

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 白金会员第7年
  • 信用积分1942
  • 反馈速度21-24小时
  • 同类仪器21台
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日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000 产品介绍 相关资料 用户评论

产品介绍

日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。

  • 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。

    • 0.4nm / 30kV(SE)

    • 1.2nm / 1kV(SE)

    • 0.34nm / 30kV(STEM)

  • 用改良的高真空性能和无与伦比的电子束稳定性来实现高效率截面观察。

  • 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。

     

     

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仪信通白金会员7年

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