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扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM），中文简称为扫描电镜。扫描电子显微镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。本课程主要分为三讲，分别从扫描电子显微镜的简介、制样、常见问题及仪器结构等方面解析，帮助大家更好的掌握扫描电子显微镜的使用。
课程介绍：
第一讲 扫描电子显微镜简介及制样方法
在讲解扫描电子显微镜基本应用方向的基础上，详细介绍了扫描电子显微镜前期制样工具与方法，并例举不同种类材料的制样方法及相应的电镜图片，以帮助使用者制备更好的样品，获得更优质的SEM图像。
第二讲 扫描电子显微镜常见问题及参数调整
讲解在扫描电子显微镜拍摄图片过程中，常见问题的原理性解释和解决办法，及参数调节过程中需遵循的方式方法。帮助使用者更好地完成疑难样品的拍摄。
第三讲 扫描电子显微镜结构及常用附件应用
讲解扫描电子显微镜内部局部结构，帮助使用者更好地区分各区域功能。并介绍相关扩展附件，以拓宽扫描电子显微镜的应用方向。
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