赛默飞(FEI)Quattro-SEM环境扫描场发射电镜
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赛默飞(FEI)Quattro-SEM环境扫描场发射电镜
赛默飞(FEI)Quattro-SEM环境扫描场发射电镜

¥500万 - 700万

9.1

赛默飞

暂无样本

Quattro

--

欧洲

  • 白金
  • 第15年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

仪器种类: 落地式/传统大型

电子枪种类: 冷场发射

产地类别: 进口

二次电子图象分辨率: /

放大倍数: 6 ~ 2,500,000×

加速电压: 200V ~ 30kV

背散射电子图像分辨率: 1.3nm@30kV(SE)(低真空模式)

Quattro-环境扫描场发射电镜

Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜,可以将成像和分析全面性能与环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。

Quattro的场发射电子枪(FEG)确保了优异的分辨率,通过不同的探测器选项,可以调节不同衬度信息,包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示,使得单次扫描即可获得样品信息,从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性,可以容纳最广泛的样品类型,无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下,均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持,不仅可以指导操作者,还可以直接进行交换,轻松缩短结果获取时间。


金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层
地质样品断面、矿物
软材料:聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料
颗粒、多孔材料、纤维
水合/脱水/湿润/接触角分析
结晶/相变
氧化/催化
材料生成
拉伸(伴随加热或冷却)

03Quattro-环境扫描场发射电镜.jpg


产品参数

发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪

分辨率

型号

Quattro C

Quattro S

高真空

30 kVSTEM

0.8 nm

30 kVSE

1.0 nm

1 kVSE

3.0 nm

高真空下减速模式

1 kVBD+BSED

3.0 nm

1 kVBD+ICD

2.1 nm

200 VBD+ICD

3.1 nm

低真空

30 kVSE

1.3 nm

3 kVSE

3.0 nm

30 kVBSE

2.5 nm

环境扫描模式

30 kVSE

1.3 nm

 

放大倍率:6 ~ 2,500,000×

加速电压范围200 V ~ 30 kV

着陆电压20 eV~30 keV电子束减速可选

探针电流范围1 pA ~ 200 nA,连续可调

X-Ray工作距离10 mmEDS检出角35°

样品室:从左至右为340 mm宽的大存储空间,样品室可拓展接口数量12个,含能谱仪接口3个(其中2个处于180°对角位置)通用9针电气接口

样品台和样品

型号

Quattro C

Quattro S

类型

优中心测角台,5轴电动

X Y

55×55 mm

110×110 mm

重复精度

<3.0 μm0°倾斜时)

电动Z

65 mm

旋转

N×360°连续

倾斜

-15°/+90°

最大样品高度

与优中心点(10 mm)间隔85 mm

最大样品重量

0°倾斜时,最大为5 kg

最大样品尺寸

可沿XY轴完全旋转时的直径为122 mm


探测器系统:

   同步检测多达四种信号包括

样品室高真空二次电子探测器ETD

 低真空二次电子探测器LVD

气体SEDGSED用于环境扫描模式

样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)

 样品导航彩色光学相机Nav-Cam™

 珀尔帖台集成式STEM用于观察湿薄样品- WetSTEM™

控制系统:

 操作系统:64GUIWindows 7)、键盘、光学鼠标

 图像显示:24LCD显示器,WUXGA 1920×1200

定制化的图像用户界面可同时激活多达个视图

导航蒙太奇

 软件支持UndoRedo功能

可选Joystick操纵杆

 可选多功能控制板


相关方案

  • 上期中我们着重介绍了 Axia 拍摄纤维样品时,在样品喷金的条件下,所获 得的高质量图片,以及能谱相关成分信息。 通常,对于纤维、纸张这样导电性差的样品,在电镜高能电子束连续扫描过 程中,样品表面会逐渐累积负电荷,严重时产生荷电效应,造成图像晃动、亮度 突变的问题。解决这一问题通常的方法是在样品表面镀一层金膜或者碳膜以提高 样品的导电性。然而,这一过程费时费力,对于样品的微观形貌细节也会造成影 响,尤其是对于珍贵样品或者还需要进行能谱分析等原位观察的样品,镀膜会对 样品造成不可逆转的破坏。

    纺织/印染 2021-09-17

  • 上期中我们着重介绍了 Axia 拍摄纤维样品时,在样品喷金的条件下,所获 得的高质量图片,以及能谱相关成分信息。 通常,对于纤维、纸张这样导电性差的样品,在电镜高能电子束连续扫描过 程中,样品表面会逐渐累积负电荷,严重时产生荷电效应,造成图像晃动、亮度 突变的问题。解决这一问题通常的方法是在样品表面镀一层金膜或者碳膜以提高 样品的导电性。然而,这一过程费时费力,对于样品的微观形貌细节也会造成影 响,尤其是对于珍贵样品或者还需要进行能谱分析等原位观察的样品,镀膜会对 样品造成不可逆转的破坏。

    纺织/印染 2021-09-17

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费培训

免费仪器保养: 定期问询保养售后

保内维修承诺: 24小时响应

报修承诺: 24小时响应维修

  • Avizo Software for Materials Research ndustrial applications require stronger, lighter, cleaner and safer materials every day. For new developments or for better characterization of existing materials, Thermo Scientific&#8482; Avizo&#8482; Software allows for a better understanding of structure, properties and performance.

    3950MB 2021-04-07
  • Automated large area image and analytical data acquisitions at high resolution with on-the-fly processing

    2223MB 2021-04-07
  • EDS 分析(能量色散 X 射线光谱,也称为 EDX 分析)是一项研究微米级化学成分的强大技术。通过结合扫描电子显微镜 (SEM),EDS 从用电子束扫描样品时发射的 X 射线中获得组分信息。可检测的元素范围几乎涵盖了整个元素周期表,且 EDS 提供的数据对于很多应用第至关重要、从工艺/质量控制到故障分析和基础研究。因此,几乎每个 SEM 都配备了 EDS 系统。

    300MB 2021-04-07
问商家

赛默飞扫描电镜Quattro的工作原理介绍

扫描电镜Quattro的使用方法?

赛默飞Quattro多少钱一台?

扫描电镜Quattro可以检测什么?

扫描电镜Quattro使用的注意事项?

赛默飞Quattro的说明书有吗?

赛默飞扫描电镜Quattro的操作规程有吗?

赛默飞扫描电镜Quattro报价含票含运吗?

赛默飞Quattro有现货吗?

赛默飞(FEI)Quattro-SEM环境扫描场发射电镜信息由北京欧波同光学技术有限公司为您提供,如您想了解更多关于赛默飞(FEI)Quattro-SEM环境扫描场发射电镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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布鲁克电子显微纳米分析仪器部
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