AFM 原子力显微镜

Bruker原子力显微镜

Bruker公司的AFM具有多项 技术，以其 性能广泛应用于科研和工业各领域

Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的产品，凝聚了多项行业的 技术，是二十多年技术创新、客户反馈和行业应用的结晶。

应用：

应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。

原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。

特征：

u 低漂移和低噪音水平

u 配置有专有ScanAsys原子成像优化技术，可以简易快速稳定成像

u 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mm

u 温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出前所未有的高分辨率。

u 全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。

u 探针和样品台的开放式设计使Icon 可胜任各种标准和非标准的实验。

u 先进的布鲁克AFM的模式和技术，如高次谐波共振模式，和独有的不失真高温成像技术--采用对针尖和样品同时加热的方法， 程度减少针尖和样品之间的温差，避免造成成像失真。