¥5万 - 10万
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WT-2000MCT 变温寿命测试系统
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欧洲
WT-2000MCT是针对窄禁带半导体材料设计的温度寿命测试系统，可选择不同的测试模式，适用于多种窄禁带半导体材料。 |
| 操作模式：恒温整片扫描/单点温度扫描变温范文: 80K - 325K
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少数载流子复合寿命通常是温度的函数 |
窄禁带半导体在室温下其非平衡载流子处于热激发状态 |
可测样品: HgCdTe, InSb, GaAs, etc. |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 技术人员现场培训
免费仪器保养: 2个月1次
保内维修承诺: 软件免费重装，硬件维修
报修承诺: 24小时到达
