看了扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM)的用户又看了
Nanonics先进的扫描探针显微镜(SPM)十年前就集成了SEM&SEM/FIB的联用系统。Nanonics提供广阔的功能选择,不仅在扫描探针显微镜(SPM)自身领域,还包括了与探针相关的核心领域。因此,NanoToolKit探针工具包的设计尽可能的开放,针尖完全可见。多种探针给SEM/FIB系统带来了独特的功能升级,如光学,热学和其他功能性模块。
首位接受此功能的用户完成了之前电子和离子束用户未实现的功能,在军工测试和加工领域都有重要的应用。
Nanonics意识到这是一个新应用的开始,并和这些用户积极的合作完成这个领域的新方向研究,因此用SPM和SEM/FIB联用系统提供给用户比独立AFM或SEM/FIB系统更多的可能性。Nanonics客户因此可以任意使用合适的SPM探针在电子束激发的同时探测器件的某种特性。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 收到用户通知后1周内将在项目现场为用户提供培训,受训人数不限
免费仪器保养: 每季度至少一次上门回访、检修
保内维修承诺: 对非人为因素造成的损坏提供免费维修
报修承诺: 24小时内派工程技术人员到达现场或通过远程诊断方式对故障作出判断
Nanonics扫描探针MV4000的工作原理介绍
扫描探针MV4000的使用方法?
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