X射线能谱EDS
新一代的QUANTAX能谱仪采用*的 slim-line 技术，并可搭载不同面积的XFlash 6探头。而且，依托于*新改进的超级数模双通道脉冲处理器，布鲁克又一次为能谱仪的操作性和功能性建立了新的标准。
利用以上*新科技，布鲁克第六代电致冷能谱仪为微米尺度甚至纳米尺度的微区分析提供了迄今为止*为快速和可靠的分析工具。
布鲁克第六代XFlash探测器
种探头面积可选
10, 30, 60 及 100 mm2 的探头面积可选，提供微量分析及纳米分析的理想解决方案
超高脉冲数据处理能力，保证*快的测量速度
新一代混合脉冲处理器，可处理数据能力：
输入计数率超过 1,500 kcps
输出计数率超过 600 kcps
*好的能量分辨率，保证*佳的轻元素和低能端分析
121eV limited edition
123eV ultimate
126eV premium
129eV standard
能量分辨率指标均优于 ISO 15632:2002 的要求
Slim-line技术：更高的计数率，更低束流下的分析
探头与样品的距离为业内*近，从而在SEM,FIB-SEM, 电子探针和TEM中获得*大的固体角
在TEM中具有业内*大的检出角
简洁的设计，探头小巧轻便
高的轴动设计配合集成马达，使得定位更*
改进的散热片结构，使得测量氛围更稳定
探测器重量不超过 3.75 kg
XFlash6 for SEM
布鲁克提供和扫描电镜（SEM）、聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）、及电子探针（μ-probe）均能*搭配的完整产品系列。XFlash 6 | 10 及 6 | 30涵盖绝大部分应用领域，包括高束流分析、低电压（纳米）分析和低真空分析。而XFlash 6 | 60 和 6 | 100 则适用于一些不常见应用领域，包括低束流分析和对束流其敏感的样品。
XFlash 6 | 10 –*佳能量分辨率SDD
10 mm2 探测器具有分辨率Mn Ka 121 eV –业内*好的能量分辨率；
*的轻元素及低能端定性定量功能。
XFlash 6 | 30 –效率超高的分析能手
中型探头面积30 mm2 SDD，专门为纳米分析及高计数率谱图成像设计；
实现与高速度EBSD的*搭配。
XFlash 6 | 60 –大面积SDD，纳米分析专家
60 mm2 SDD 适用于低束流分析；
理想的分析能力，专为纳米颗粒、生物样品分析设计。
XFlash 6 | 100 –*大的探测面积，为低束流应用而生
100 mm2 面积，解决一些测试需要；
低束流扫描电镜SEM（特别是冷场发射扫描电镜）和敏感样品的理想选择。
XFlash6T for TEM
BrukerXFlash 6T –实现在 TEM 和 S/TEM 中*大的固体角，*大程度的减少了对电镜在机械和电磁方面的干扰。提供*优的检出角，避免不必要的样品倾斜。
XFlash 6T | 30 –首台适用于像差校正透射电子显微镜的SDD
利用30mm2晶体进行TEM能谱分析的多面手
XFlash 6T | 60 –固体角*大的SDD，为埃米级别透射电子显微镜分析而生
60 mm2面积，专门适合分析中只有低X射线产额的情况
