现在，您可以对多种类型和形状的样品进行高级非破坏性元素分析。只需极少的样品制备操作。无需涂层。Orbis 微束 XRF 分析仪不仅能够快速、同步进行多元素 X 射线检测，还具有出色的灵敏度，分析含量从百万分之几到 100% 不等。凭借 XRF 分析仪的一切优点和简单性，用户可对小样品（如颗粒、碎片和夹杂物）进行元素分析，也可以对大样品进行自动化多点和成像分析。
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这些台式仪器可在空气或低真空条件下测量从 Na 到 Bk 的元素。由于 X 射线具有穿透力和较大的光斑，Orbis 分析仪比扫描电子显微镜更适合分析较大特点的样品。EDAX 的 Vision 软件强大易用，可提供精确的元素分析。
Orbis 安装了垂直于样品的高级 X 射线光学元件和高品质摄像机，使仪器适用于更广泛的样品几何形状。这种创新设计实现了真正意义上的“所见即所分析”这一能力。可轻松检测到由于 X 射线束阻挡而导致的错误测量。如果相机视野受到阻挡，X 射线也会受到阻挡。测量形貌样品时，可消除 X 射线束的阴影。此外，在仪器设计的工作距离外更容易进行定性分析。
Orbis 适合各种应用，包括刑事取证、工业质量控制和无损检测，以及材料、电子和地质样品分析。
Orbis 微束 EDXRF 分析仪配有两个标准型号：Orbis MC 分析仪和 Orbis PC 分析仪。EDAX 为每个型号提供了一系列附加选项，这两个型号覆盖了各类需要高精度非破坏性元素分析的应用。Orbis Vision 软件对于两种型号均适用。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 安装免费培训
免费仪器保养: 质保期内
保内维修承诺: 工程师尽快上门
报修承诺: 24小时回应
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