树脂片中三维荧光光谱检测方案(分子荧光光谱)

HITACHI1nspire the NextHitachi High-Tech ScienceFL No.190001 荧光分光光度计 利用EEM@View观察荧光体树脂片 荧光、反射图像获取和光谱分析技术1) 目前，照明灯和液晶显示屏的背光背均采用白色LED灯。因此，为了进一步提升产品性能， Mini LED背光源和Micro LED显示屏的研发正在紧锣密鼓的进行中。 荧光分布成像系统(EEM@View)是用于观察样品图像、获取光谱的附件。入射光通过照射积分球内壁，获得均匀光源，进而观察样品。利用F-7100标配的荧光检测器可以获得荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机装置拍摄图像，并利用AI分光图像处理系统，可以同时得到反射和荧光图像。 相信未来EEMQ View会在LED零配件内的荧光体光学特性评价中得到广泛的应用。 1.荧光体树脂片(50mm×50mm)的荧光特性 此次实验测定了在面发光LED中使用的荧光体树脂片。对样品照射360~640nm的单色光，得到了样品特有的荧光特性。EEM View模式下，可同时获得不同光源条件的样品图像。 通常，白色LED灯采用蓝色LED作激发光源，在455nm附近激发，与580~650nm黄色~橙色的荧光混合形成白光(图1)。由图2、图3可以看出，此次测定的样品荧光体树脂片，在蓝色LED的455nm附近被激发，发出相当于625nm的橙色荧光。 光的三原色 1 荧光体 蓝色LED 图1白色LED的原理 图2三维荧光光谱 图3激发、发射光谱 2.荧光体树脂片的结构确认(凝聚、分散状态) (评价项目) 判断样品的凝聚、分散状态 图4树脂片的拍摄图像与计算光谱 荧光体树脂片的分布均匀性确认 发射光谱 发射光谱 图5树脂片的拍摄图像与依据计算光谱判断样品的分布均匀性 【KEY WORDS 荧光光谱、反射光谱、光谱图像、光谱相机、相像分离、荧光分光光度计、F-7000、F-7100 EEM、EEM View、荧光分布成像系统、LED、Mini LED、Micro LED、显示屏、荧光体 注意：本资料中的内容如有变更，恕不另行通知。此外，记载数据为测试用例，仅供参考。 “EEM”是日立高新科学公司在日本的注册商标。 北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室 TEL：4006305821 http：//www.hitachi-hightech.com/ 光谱分析系统是国立信息学研究所的佐藤IMARI教授和郑银强副教授共同研究的成果。Page. Page.日立高新技术公司OHitachi High-Technologies (Shanghai) Co.， Ltd. Beijing BranchE-mail： contact.us@hitachi-hightech.com 传统荧光分光光度计只能提供测试区域内的平均荧光信息，日立F-7100通过安装荧光分布成像系统可以获取样品荧光图像，反射图像，荧光光谱分布，反射光谱分布等多方面的信息。为客户提供样品更全面的信息，启发科研新思路!