Anton Paar原子力显微镜

仪器简介：

原子力显微镜（AFM）或扫描探针（SPM）技术，是测量表面形貌或表面微小作用力准确有效的技术。位于悬臂梁末端的探针与试样表面接触，并对试样表面进行数字化扫描。通过这种技术，我们可以得到试样表面的超高分辨率三维形貌。这项技术特别适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。

瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括：
测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）；
界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ；
包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ；
最简便易用的膜厚测试仪；
用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。

主要特点：

特点
光学显微镜与原子力显微镜的结合使表面量化分析成为可能
光学显微镜可将表面细节放大到具有亚纳米尺寸分辨率的图像
微米与纳米结构的分析
临界尺寸(CD)的测量
对腐蚀结构与粗糙度的测量分析
薄膜表面轮廓分析
弱光学对比度表面测量
生物材料及其他材料表面研究领域的应用
选件
非接触扫描模式
摩擦力扫描模式
磁性力扫描模式
脉冲力扫描模式
静电力扫描模式
热扫描模式
电导显微镜
液体介质测量模块