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Anton Paar原子力显微镜

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Anton Paar原子力显微镜
参考报价:
 面议
型号:
 AFM
品牌:
 安东帕
产地:
 瑞士
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
仪器种类:
 原子力显微镜
样品台移动范围:
 180mm*100mm
样品尺寸:
 最大6英寸
定位检测噪声:
 1nm
价格区间:
 100万-150万
产地类别:
 进口仪器
分享:
400-801-9298
仪器信息网认证,请放心拨打
产品简介

仪器简介:

原子力显微镜(AFM)或扫描探针(SPM)技术,是测量表面形貌或表面微小作用力准确有效的技术。位于悬臂梁末端的探针与试样表面接触,并对试样表面进行数字化扫描。通过这种技术,我们可以得到试样表面的超高分辨率三维形貌。这项技术特别适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。

瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括:
测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪(纳米压痕仪, 显微压痕仪);
界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ;
包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ;
最简便易用的膜厚测试仪;
用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。

 



主要特点:

特点
光学显微镜与原子力显微镜的结合使表面量化分析成为可能
光学显微镜可将表面细节放大到具有亚纳米尺寸分辨率的图像
微米与纳米结构的分析
临界尺寸(CD)的测量
对腐蚀结构与粗糙度的测量分析
薄膜表面轮廓分析
弱光学对比度表面测量
生物材料及其他材料表面研究领域的应用
选件
非接触扫描模式
摩擦力扫描模式
磁性力扫描模式
脉冲力扫描模式
静电力扫描模式
热扫描模式
电导显微镜
液体介质测量模块

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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH101011/