Agilent 8900 ICP-MS/MS

ICP-MS4月热度榜·第8名

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品牌

安捷伦

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型号

8900

荣誉奖项

产地

美洲

安捷伦科技(中国)有限公司

钻石
第22年
生产商

营业执照已审核

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核心参数

产地类别： 进口

仪器种类： 四极杆质谱

适用场景： 实验室

卓越的性能

受控的反应化学过程提供一致、可靠的结果
分离重叠的同量异位素，超越高分辨率 ICP-MS 的能力
极低检测限，甚至可用于以前难以检测的元素，例如 S、Si、P
功能强大的 ICP-MS MassHunter 软件可简化您的工作流程并使方法开发自动化

无与伦比的灵活性

标准 4 通道反应池气体控制
独特的母离子/子离子扫描模式，清除呈现反应过程
用于研究和方法开发的出色通用的 ICP-MS

强大的技术助您完成前所未有的更多工作

监测原料化学品和硅片加工浴中的低水平超痕量污染物
定量分析未知蛋白质和多肽，以准确测量低浓度的异质元素硫和磷
对复杂环境、食品和生物样品中低至亚 50 纳米的纳米颗粒进行表征
以更高的准确度测量所有食品样品中的低浓度硒、砷和各种形态的砷

相关方案

综合半导体环保食品/农产品石油/化工电子/电气

超纯水和过氧化氢中磷、硫、硅和氯检测方案(等离子体质谱)
在多种用于无机分析的仪器中，四极杆 ICP-MS (ICP-QMS) 是一种灵敏度极高且应用范围极广的分析工具。灵敏度接近每秒 10 亿次计数/ppm (1 G cps/ppm)，背景信号通常小于 1 cps。其最新型号对元素周期表中的大多数元素都能达到 ppq (ng/L) 级检测限 (DL)。对于质量高于 80 amu 的元素，易于实现其最低检测限；而由于多原子干扰造成的质谱重叠，一些质量较轻的元素处于痕量水平时难以被测量到。ICP-QMS 可以利用低温等离子体和碰撞/反应池等方法来解决这一背景干扰的问题，已在许多应用中取得了成功。
石油/化工 2018-07-10
水质/土壤中甲基汞、碘普罗胺检测方案(ICP-MS)
"在过去的二十年里，元素形态分析方法的发展在很大程度上受检测系统 ICP-MS 的联用技术推动。作为 ICP-MS 联用技术的领先开发者和践行者，安捷伦在 ICP-MS 联用领域深耕二十年，基于 ICP-MS 与 LC, GC, CE，以及LA等联用技术，在不同行业开发出大量解决方案，并积累了海量应用文献。此外，安捷伦独特的串接产品 ICP-MS/MS，更将联用技术的检测性能提到了一个新的高度，满足了某些存在特殊干扰或有更高灵敏度要求的特定元素分析的需求。在有机物检测领域，安捷伦 ICP-MS 产品联用技术的应用范围不断被刷新和扩展。例如：利用GC-ICP-MS/MS 联用技术对痕量有机磷和有机硫农药进行高灵敏度以及高选择性的检测，HPLCICP-MS 联用技术与有机质谱配合研究富硒蛋白鉴定等生物研究领域的应用。"
环保 2020-07-23
半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)中多元素 NP检测方案(ICP-MS)
使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素 NP 分析，MS/MS 方法可实现低背景、高灵敏度和干扰控制。使用专门开发的快速多元素纳米颗粒分析软件，在一次样品采集中获得 Ag、Al2O3、Fe3O4、Au 和 SiO2 NP 的多元素数据并组合到一个结果表中。该表格提供关于含各种实测元素的纳米颗粒的全面信息。结果表明，在溶液中含有大颗粒（如200 nm SiO2 NP）的情况下仍可测量小颗粒（如 30 nm Fe3O4NP）。1% TMAH 溶液中的 Al2O3和 SiO2 NP 的粒径和颗粒浓度在 10 小时内稳定不变，而 Fe3O4和 Ag NP 的颗粒浓度随时间逐渐减小。这一结果表明，TMAH 溶液中的 Fe3O4和 Ag NP 应在配制好后尽快测量。1% TMAH 中 Fe3O4 NP 的粒径稳定不变，而 NP 浓度随时间的变化还需要进一步的研究。本研究表明，利用 spICP-MS 能够快速准确地测定含有由不同和/或多种元素组成的纳米颗粒的样品。与针对每种 NP 分别采集数据相比，快速多元素纳米颗粒分析软件简化了分析方法并将样品运行时间缩短了 7 分钟。测量的元素越多，节省的时间也就越多。
半导体 2021-04-01
注射剂中元素杂质检测方案(ICP-MS)
Agilent ICP-MS 在注射剂样品的元素杂质分析中具有突出特点：配备高基质进样系统，有效应对高盐样品分析；采用第四代氦气碰撞反应池技术，高效彻底地消除干扰，操作简便；功能齐全的合规软件设计；采用变频式射频发生器设计。
制药/生物制药 2020-01-13

半导体级四甲基氢氧化铵 (TMAH)中多元素 NP检测方案(ICP-MS)
使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素 NP 分析，MS/MS 方法可实现低背景、高灵敏度和干扰控制。使用专门开发的快速多元素纳米颗粒分析软件，在一次样品采集中获得 Ag、Al2O3、Fe3O4、Au 和 SiO2 NP 的多元素数据并组合到一个结果表中。该表格提供关于含各种实测元素的纳米颗粒的全面信息。结果表明，在溶液中含有大颗粒（如200 nm SiO2 NP）的情况下仍可测量小颗粒（如 30 nm Fe3O4NP）。1% TMAH 溶液中的 Al2O3和 SiO2 NP 的粒径和颗粒浓度在 10 小时内稳定不变，而 Fe3O4和 Ag NP 的颗粒浓度随时间逐渐减小。这一结果表明，TMAH 溶液中的 Fe3O4和 Ag NP 应在配制好后尽快测量。1% TMAH 中 Fe3O4 NP 的粒径稳定不变，而 NP 浓度随时间的变化还需要进一步的研究。本研究表明，利用 spICP-MS 能够快速准确地测定含有由不同和/或多种元素组成的纳米颗粒的样品。与针对每种 NP 分别采集数据相比，快速多元素纳米颗粒分析软件简化了分析方法并将样品运行时间缩短了 7 分钟。测量的元素越多，节省的时间也就越多。
半导体 2021-04-01
N-甲基-2-吡咯烷酮 (NMP)中痕量的氯检测方案(等离子体质谱)
N-甲基-2-吡咯烷酮 (NMP)，化学分子式为 C5H9NO，是一种化学性质稳定的水溶性有机溶剂，广泛应用于制药、石化、高分子科学，特别是半导体行业中。电子级 NMP 通常被半导体生产商用作晶片清洗剂和光刻胶剥离剂，以及用作和晶片表面直接接触的溶剂。这就要求 NMP 中金属（和非金属）污染物的含量尽可能地低。ICP-MS 是测定半导体工艺化学品中痕量金属杂质的首选技术。但对 ICP-MS 技术而言，测定 NMP 中的非金属杂质如硫、磷、硅和氯却是个挑战。这些元素较低的电离效率大大降低了分析信号的强度，与此同时，由 NMP基质中的 N、O 和 C 元素形成的多原子离子造成的高背景信号（计为背景等效浓度，BEC）使这一痕量检测更加雪上加霜。电感耦合等离子体串联质谱仪的高灵敏度和强大的消干扰能力使它特别适合于应对这一应用的挑战。本应用介绍了 Agilent 8800 电感耦合等离子体串联质谱仪 (ICP-MS/MS)在 MS/MS 模式下，测定 NMP 中的 S、P、Si 和 Cl。
半导体 2018-11-26
N-甲基-2-吡咯烷酮 (NMP)中痕量的硫检测方案(等离子体质谱)
N-甲基-2-吡咯烷酮 (NMP)，化学分子式为 C5H9NO，是一种化学性质稳定的水溶性有机溶剂，广泛应用于制药、石化、高分子科学，特别是半导体行业中。电子级 NMP 通常被半导体生产商用作晶片清洗剂和光刻胶剥离剂，以及用作和晶片表面直接接触的溶剂。这就要求 NMP 中金属（和非金属）污染物的含量尽可能地低。ICP-MS 是测定半导体工艺化学品中痕量金属杂质的首选技术。但对 ICP-MS 技术而言，测定 NMP 中的非金属杂质如硫、磷、硅和氯却是个挑战。这些元素较低的电离效率大大降低了分析信号的强度，与此同时，由 NMP基质中的 N、O 和 C 元素形成的多原子离子造成的高背景信号（计为背景等效浓度，BEC）使这一痕量检测更加雪上加霜。电感耦合等离子体串联质谱仪的高灵敏度和强大的消干扰能力使它特别适合于应对这一应用的挑战。本应用介绍了 Agilent 8800 电感耦合等离子体串联质谱仪 (ICP-MS/MS)在 MS/MS 模式下，测定 NMP 中的 S、P、Si 和 Cl。
半导体 2018-11-26
高纯度过氧化氢中超痕量元素检测方案(ICP-MS)
采用 Agilent 8900 ICP-MS/MS 可使多种元素（包括 SEMI C30-1110 中规定的所有元素以及其他痕量元素）在高纯 35% 过氧化氢中均以亚 ppt 至ppt 级测出。在 0 ppt 至 50 ppt 浓度范围获得了出色的线性校准曲线。几乎所有元素均获得了亚 ppt 级定量结果，其余元素具有几个 ppt 的检测限（除Si 以外，其检测限为 25 ppt）。在持续 3 小时40 分钟的高纯 35% 过氧化氢样品分析序列中，加标分析物在 10 ppt（S 为 100 ppt）浓度下获得了 1.0%–8.1% RSD 的重现性。结果证明 Agilent 8900 半导体配置 ICP-MS/MS 仪器适用于高纯半导体级试剂和制程化学品的常规分析
半导体 2021-03-11

水质/土壤中甲基汞、碘普罗胺检测方案(ICP-MS)
"在过去的二十年里，元素形态分析方法的发展在很大程度上受检测系统 ICP-MS 的联用技术推动。作为 ICP-MS 联用技术的领先开发者和践行者，安捷伦在 ICP-MS 联用领域深耕二十年，基于 ICP-MS 与 LC, GC, CE，以及LA等联用技术，在不同行业开发出大量解决方案，并积累了海量应用文献。此外，安捷伦独特的串接产品 ICP-MS/MS，更将联用技术的检测性能提到了一个新的高度，满足了某些存在特殊干扰或有更高灵敏度要求的特定元素分析的需求。在有机物检测领域，安捷伦 ICP-MS 产品联用技术的应用范围不断被刷新和扩展。例如：利用GC-ICP-MS/MS 联用技术对痕量有机磷和有机硫农药进行高灵敏度以及高选择性的检测，HPLCICP-MS 联用技术与有机质谱配合研究富硒蛋白鉴定等生物研究领域的应用。"
环保 2020-07-23
高基质样品中简单、可靠分析检测方案(等离子体质谱)
The Agilent 7700x/7800 ICP-MS combines the simplicity of a single collision cell mode (helium mode) for polyatomic interference removal with the superior matrix tolerance of its unique High Matrix Introduction (HMI) system. Octopole Reaction System (ORS) cell technology provides higher sensitivity and more effective interference removal than ever before in complex, high matrix samples, eliminating the need for reactive cell gases in routine analysis. Helium mode on the ORS is so effective that interference correction equations can also be eliminated.
环保 2016-07-22
土壤和沉积物中28 种元素（包括 As 和 Se）检测方案(等离子体质谱)
四极杆 ICP-MS (ICP-QMS) 具有灵敏度高、检测限低、动态范围宽且支持快速多元素分析等性能特性，是无机检测实验室中应用最广泛的分析技术之一。最新研究进展在基质耐受性方面取得了显著进步：安捷伦的高基质进样 (HMI) 技术使用气溶胶稀释减少等离子体的样品基质载入量，确保更高基质浓度的样品（总溶解态固体浓度高达百分级）能够进行常规分析。干扰控制也有显著改善，利用安捷伦的八极杆碰撞/反应池 (CRC) 在氦 (He) 碰撞模式下使用单一碰撞池条件即可有效去除各种来自基体的多原子干扰。现在使用 ICP-QMS 能够对各种样品基质中规定浓度的所有必需元素进行可靠准确的定量分析。然而，一些应用对某些特定元素需要更高的灵敏度，另一些复杂的样品基质可能会引发质谱干扰，而质谱干扰依然是分析工作的一项挑战。
环保 2018-09-10
环境空气中重金属检测方案(等离子体质谱)
本文介绍了一种新开发的方法，用于分析大量空气样品中的痕量金属。为了增加样品通量，结合使用安捷伦集成样品引入系统 (ISIS) 与半定量分析模式的 Agilent 7500c 八级杆反应池系统ICP-MS。采用此方法，在大约 2 周的时间内完成了 2500 份样品的溶解元素和可萃取元素组成分析。分析 NIST CRM 1643e 水样获得的良好回收率证明了仪器的稳定性和可靠性。数据处理方面采用宏命令对样品结果进行下载和导出，所使用的文件格式可顺利地导入统计分析软件。
环保 2018-07-27

食品中元素和形态分析检测方案(等离子体质谱)
食品样品具有基质组成复杂、元素浓度范围宽等特点，给此类样品的元素分析带来极大挑战。利用传统 ICP-MS 进行分析时，往往存在结果准确度和分析效率不佳的情况。安捷伦ICP-MS 凭借众多成熟先进的专利技术，能够有效帮助用户解决这些可能面临的困难。
食品/农产品 2019-01-21
婴儿食品中农药检测方案(气相色谱仪)
测定食品中的农药残留对于婴幼儿来讲尤其重要，因为他们摄入的食物量换算到单位体重会非常高。某些农药是已知的或疑似的内分泌干扰物 (EDC)，因此，即使它们浓度较低，也可能干扰天然激素的功能，从而严重影响儿童的成长。因为通过饮食长期低剂量接触农药，使得人们越来越关注能够将快速样品前处理与联用的分离和检测相结合的高灵敏度分析方法的开发。大多数农药残留实验室使用 QuEChERS（快速、简便、经济、高效、耐用和安全）萃取方法。对于热稳定的弱极性农药，通常使用气相色谱串联质谱 (GC/MS/MS) 分析提取物，对于挥发性较小和/或极性较强的农药，则使用液相色谱串联质谱 (LC-MS/MS) 进行分析。一种近年来开发的替代技术涉及将气相色谱与串联四极杆 ICP-MS 联用 (GC-ICP-MS/MS)，该系统能够通过测量大多数农药中的杂原子 P 和 S（以及 Cl 和 Br）来测定农药。GC-ICP-MS/MS 提供了非常出色的选择性和特异性，并且灵敏度优于成熟的方法。本研究所述的方法可应用于其他化合物，例如有机磷化学战剂、溴代阻燃剂、聚合物添加剂以及香精和香料中的痕量硫化合物。
食品/农产品 2018-09-11
食品样品中有毒元素检测方案(等离子体质谱)
对于高基质样品（如食品消解液样品）中最宽范围的痕量和常量元素，Agilent 8900 标准配置 ICP-MS/MS与 UHMI 相结合提供了常规分析所需要的稳定性和基质耐受性。在 O2 反应池气体与 MS/MS 质量转移模式下，影响痕量水平砷和硒准确测定的带双电荷的 REE 干扰得以消除。大多数其他元素在 He 模式下进行测定，对于复杂多变的基质，这种在使用中充分验证过的方法广泛用于去除常见的基于基质的多原子干扰。利用预设方法和自动调谐大大简化了方法开发，确保获得可重现的性能，不受操作者经验丰富与否的影响。
食品/农产品 2018-05-27
大米中无机砷检测方案(等离子体质谱)
本文开发出了一种利用氢化物发生 (HG) 技术与 ICP-MS 分离并检测食品中无机砷 (iAs) 的快速而灵敏的方法。31 种市售大米中的无机砷含量测定值均低于现行中国法规中规定的最大浓度 (ML) 150 μg/kg。对 HG-ICP-MS 和 HPLC-ICP-MS 获得的数据进行比较后发现两种分析技术的检测限相当。HG-ICP-MS 是大规模筛选大米等食品样品的理想选择，因为这一技术仅需耗费传统 HPLC-ICP-MS 方法通常所需时间的一小部分，且分析性能不受任何影响。
食品/农产品 2018-09-21

超纯水和过氧化氢中磷、硫、硅和氯检测方案(等离子体质谱)
在多种用于无机分析的仪器中，四极杆 ICP-MS (ICP-QMS) 是一种灵敏度极高且应用范围极广的分析工具。灵敏度接近每秒 10 亿次计数/ppm (1 G cps/ppm)，背景信号通常小于 1 cps。其最新型号对元素周期表中的大多数元素都能达到 ppq (ng/L) 级检测限 (DL)。对于质量高于 80 amu 的元素，易于实现其最低检测限；而由于多原子干扰造成的质谱重叠，一些质量较轻的元素处于痕量水平时难以被测量到。ICP-QMS 可以利用低温等离子体和碰撞/反应池等方法来解决这一背景干扰的问题，已在许多应用中取得了成功。
石油/化工 2018-07-10
气体标准品中氢化物气体污染物检测方案(ICP-MS)
Agilent 8800 ICP-MS/MS 具有极低的背景和更高的灵敏度，因此 GC-ICP-MS/MS 方法在测定高纯气体中的各种污染物时具有明显的优势，能够实现行业所要求的低检测限。与采用传统四极杆 ICP-MS的 GC-ICP-MS 相比，GC-ICP-MS/MS 对硅烷、磷化氢、硫化氢和羰基硫的检测限低 5–10 倍，其中硅烷的检测限为 200 ppt 左右，而磷化氢检测限为15 ppt 左右。
石油/化工 2021-01-31
一氧化碳中金属羰基化合物检测方案(气相色谱仪)
Agilent 8800 ICP-MS/MS 能够在单次色谱分析中使用多种调谐条件，从而可对每种分析物采用最佳采集设置。这使得 GC-ICP-MS/MS 在测定羰基镍和羰基铁时可实现出色的检测限，羰基镍和羰基铁是一氧化碳中最难分析的两种典型污染物。获得的检测限为 70–80 ppt，与 GC-ECD 检测相当，并且远低于各行业目前所要求的检测限。此外，ICP-MS/MS 的多元素分析能力可确保其他金属羰基化合物也可采用此方法实现成功测量，包括Co2(CO)8、Cr(CO)6、Mo(CO)6 和 Fe2(CO)9。通过标准 ICP 雾化室的第二进样口将气相色谱连接至 ICP-MS/MS，以便能够同时吸取标准溶液。由于羰基化合物通常缺少气体标样，因此此方法对于羰基物化合物的定量测定至关重要。同时吸取标准溶液还可提供充足的氧气，防止一氧化碳在炬管或锥上形成碳积聚，从而无需再额外添加氧气。
石油/化工 2021-03-11
SiO2 纳米材料中表征检测方案(ICP-MS)
纳米 SiO2 材料的应用范围的不断扩展引发了对其环境和健康危害性的关注，这种需求促生了用于 SiO2 纳米材料直接测定和表征的新方法的开发，虽然 SP-ICP-MS 技术已经确认是可用于纳米颗粒物浓度和粒径的直接表征方法，但是由于 Si 元素在质谱测定中会面临的强质谱重叠干扰，传统单级质谱存在定量难度，本文利用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 串联质谱的强干扰消除能力，实现了 Si 元素的无干扰测定，从而完成了使用 SP-ICP-MS/MS 对 SiO2 纳米材料的直接表征。
石油/化工 2021-06-02

超纯半导体级硫酸中痕量元素检测方案(ICP-MS)
使用 Agilent 8900 半导体配置 ICP-MS/MS，成功测定了半导体级 H2SO4 中超痕量水平下的 42 种元素。1/10 稀释的 H2SO4 中，20 ppt 水平（Si 为 2 ppb）下的所有元素均获得了优异的加标回收率，证明8900 ICP-MS/MS 方法适用于高纯度工艺化学品的常规分析。使用 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式下采用适当反应池气体条件，避免了质谱干扰问题的出现，这些干扰会阻碍 ICP-QMS 对某些关键元素的测量。8900 ICP-MS/MS 的轴向加速功能明显提高了测定 Ti、Zn 和 P 等原子所需的子离子灵敏度。9.8% H2SO4中的几乎所有分析物均获得了亚 ppt 级 DL 和 BEC。
电子/电气 2021-01-31
高纯硅样品中Mg 元素检测方案(等离子体质谱)
Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。
电子/电气 2018-12-25
高纯硅样品中Zr 元素检测方案(等离子体质谱)
Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。
电子/电气 2018-12-26
高纯硅样品中Se 样品检测方案(等离子体质谱)
Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。
电子/电气 2018-12-25