冷场发射球差校正透射电镜_参数

核心参数

仪器种类： 场发射

分辨率： STEM图像：0.071nm(有球差校正)

加速电压： 30,80,200kV

放大倍率： 50X-2,000,000

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日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。

传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大增强了原子级观察和原子级分析能力。

在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室；欧洲各国；日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等；中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。

从2009年开始，中国先后购买了JEM-ARM200F进二十台，针对不同研究领域选用了不同配置。2017年6月日本电子株式会社推出了最新款的NEO ARM,采用自动球差校正软件、且低压下的分辨能力超强，适用范围进一步扩大，为材料科学研究提供了一个更全面分分析平台。

用户单位	采购时间
三星（西安）	2013-11-01
北京化工大学	2014-06-09
中国石化石油化工科学研究院	2013-03-20
上海交通大学	2011-12-01
中国科学院物理研究所	2011-07-31

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