Bruker Xsense超灵敏平行光WDS波谱仪

Bruker公司的高精确度波长色散X射线谱仪将最新的探测器技术纳入其中并且同时提供许多难以 匹敌的优势。

Hitachi台式电镜专用EDS系统

QUANTAX 75包含一台 有着 极佳 能量分辨率的XFlash硅漂移探测器（ SDD），一个小型电子处理单元以及直观便捷的 ESPRIT Compact软件。该系统可以 提供不同材料的定性与定量分析，分析元素范围从 B(5)到Cf(98)。 QUANTAX 75除了在可以提供样品表面的单独点扫描外，还可以提供强大的线扫描与元素谱面扫描功能。结合定制的探测器 ，分析与出具报告在几秒之间就可以完成。

eFlash HD获取高细节&高分辨率花样

新的e-Flash HD探测器使用了高效率以及高质量的磷光屏,它能采集更多细节的菊池带花样。结合—块拥有更多像素点的CCD芯片以及更小晶粒尺寸的磷光材料．可以保证菊池带花样中像素尺寸优于20um，即使花样中非常微小的变化也可以清晰可见。

eFlash FS高速&高灵敏度EBSD探测器

探测器的灵敏度这一参数对高速EBSD探测器而言具有至关重要的影响。布鲁克推出的新一代的高速e-Flashf8 EBSD探测器拥有至高的灵敏度．使得即使对变形或轻质材料的EBSD分析也不会影响信号质量，能够快速完成EBSD测试,采集速度高达945点每秒。此外．新一代的e-Flashf8还升级了冷却系统．可以降低工作温度．最大限度地减小了CCD探测器的暗电流．更好地提高了花样质量。

Quantax FlatQUAD扫描电镜用Flash FlatQUAD能谱仪

QUANTAX FlatOUAD系统的核心——XFlashRFlatQUAD探测器．基于最新颖的探测器设计理念．安装于扫描电镜样品仓的水平接口,使探测器置于电镜极靴和样品之间。而传统的探测器则采用电镜的倾斜接口。XFlashRFlatQUAD探测器能够与不同类型的扫描电镜兼容。

Quantax 采用先进Slim-line技术的SEM和TEM用能谱仪

Bruker新一代的QUANTAX能谱仪采用先进的slim-line技术，并可搭载不同有效面积的XFlash6探头。而且，依托于最新的超级数模双通道脉冲处理器，布鲁克又一次为能谱仪的操作性和功能性建立了新的标准。利用以上最新科技,布鲁克第六代电致冷能谱仪为微米尺度甚至纳米尺度的微区分析提供了迄今为止最为快速和可靠的分析工具。