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好消息丨布鲁克纳米分析中国客户体验中心开放啦！
为更全面更高效服务广大客户，布鲁克纳米分析原上海DEMO Lab特升级为中国客户体验中心， 该中心位于上海市闵行区合川路2570号1号楼9楼的布鲁克上海办事处，是布鲁克纳米分析部极具代表性的的客户体验中心。
体验中心包含了布鲁克纳米分析的大部分仪器，包括Bruker XFlash 能谱仪, e-Flash EBSD/TKD, X射线微区荧光光谱仪（Micro-XRF）XTrace。与此同时本中心将会不断扩大补充更多测试技术设备，如纳米压痕仪PicoIndenter系列，敬请期待！
Bruker XFlash 6系列
能谱仪（Energy Dispersive Spectrometer，简写EDS）是同时记录所有X射线谱的谱仪，是一种测量X射线强度与X射线能量函数关系的设备。通过测量固体材料被激发的X射线光子的能量进行材料元素定性分析，测量X射线强度进行材料元素定量分析。EDS是电子探针仪、扫描电镜及透射电镜成分分析的重要附件。能谱仪按照探头位置可以分为斜插式能谱仪及平插式能谱仪，按照探头数目可以分为单探头能谱仪和多探头能谱仪。
Bruker e-Flash EBSD/TKD
电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction，简称EBSD)是使用扫描电子显微镜(SEM)，或SEM-FIB(聚焦离子束)或电子探针显微分析仪（EPMA）测量和面扫描晶体试样获得晶体学信息的技术。在EBSD设备中，电子束入射倾斜晶体样品，产生的散射电子在荧光屏上形成衍射花样。这些衍射花样可以表征样品扫描区域的晶体结构和取向等晶体学信息，所以，EBSD是一个非常强大的定量微观组织表征工具。EBSD可以测定晶体取向，取向差，晶粒尺寸，织构，应变分析，晶界特性表征，相识别和相鉴定，断裂分析等。EBSD技术已经应用到了金属加工、航空航天、汽车、微电子、地球科学等实际工业生产中，是一项非常成熟的获取样品晶体学信息的手段。
同轴TKD将常规EBSD所能做到的空间分辨率极限提高了一个数量级，可达~2 nm，称为纳米晶材料组织表征的利器。
Bruker Micro-XRF on SEM Xtrace
XTrace是一款可搭配在任意一台具有倾斜法兰槽SEM上的微焦点X射线源。利用该设备可使SEM具备完整意义上的微区XRF光谱分析能力。对于中等元素至重元素范围内的元素，其检测限提高了20-50倍。此外，因为×射线的信号激发深度深于电子束，利用该设备还可以检测更深层次样品的信息。
在这里，您可以携带样品前来做样体验布鲁克仪器的高性能，还可以商务参观进行技术应用交流。
如果您有以上需求，欢迎联系我们，邮件发送至 info.bna.cn@bruker.com，或者关注微信公众号直接进行联系。
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