核心参数
仪器种类: Orbitrap
产地类别: 进口
质量范围: m/z 40-3000
灵敏度: > 5000:1
分辨率: Up to 120,000 (FWHM) at m/z 200
精确质量数: Internal lock mass calibration achieves < 1 ppm RMS drift over 24 hours
赛默飞发布了新一代四极杆-静电场轨道阱台式质谱仪Orbitrap Exploris 120。Orbitrap Exploris 120 高分辨质谱仪扩展了 Thermo Scientific Orbitrap Exploris 质谱产品线,为实验室进行高通量靶标筛查和定量提供了便利和坚固的技术支持。高分辨率、高质量精度(HRAM)能力提供了在解决方案中获得准确结果的快速途径,能够实现日复一日的可用性和持续一致的性能。帮助用户轻松应对不同分析领域的各种挑战!
l 超高的工作效率
通过全新的设计避免用户频繁维护仪器,优化仪器的工作时间,将用户的精力节省下来更多地去关注实验结果,保证工作持续、稳定地进行;
l 简单易用
通过软件优化和丰富的内置方法模板,让仪器使用更便捷,操作更简单,降低仪器和软件的学习成本,保证用户快速上手;
l 稳健性
内标校正使得仪器可以实现超长时间的质量轴稳定性;结构设计避免仪器被样品污染,从而达到更长的有效工作时间,为用户产生更大的价值。
全新的设计带来优越的分析性能和体验
1. 全新一代四极杆Orbitrap 质谱仪均采用扫描速度更快的高场 Thermo Scientific™ Orbitrap™ 质量分析器,扫描速度可达22 Hz。更快的扫描速度可以在更短的时间内分析更多的化合物,而不会出现丢峰或者扫描点数不够的情况,实现好的定量表现。同时更快的扫描速度也可以在相同时间内采集更多化合物的二级信息,提高化合物鉴定通量,实现定性分析百无一漏;
2. 在分辨率设置为60,000的条件下,在不损失灵敏度的情况下实现高达1.4 Hz的正负极性切换扫描速度。一针进样即可获得正负两种模式的数据,大大缩短数据采集耗费的时间,让用户有更多时间和精力对数据进行深入的分析和挖掘,进而获得满意的结果;
3. 全新一代四极杆Orbitrap 质谱仪均使用高场 Orbitrap 质量分析器,在保证超高扫描速度的同时,还可实现120,000的分辨率,让质量偏差mDa级别的干扰物无处遁形,为用户分析复杂基质样品提供充足的信心。同时也可以提高数据分析的效率,避免被各种干扰物迷惑,快速、准确地获得满意的结果;
4. 内置Thermo Scientific™ EASY IC™ 内标校正源,在仪器工作的同时即可实时校正质量轴,可实现连续五天质量漂移不超过1 ppm,为高通量分析时的质量精度保驾护航!
5. 具有全新的扫描方式选择,包括DDA,DIA,targeted SIM和 targeted MS/MS等模式,丰富的扫描模式保证用户能够从容面对不同领域内各种不同的分析挑战;
6. 高质量的共轭双曲面四极杆与RF应用相结合,可在更小的隔离窗口下实现极高的离子传输效率,提供出色的选择性,同时降低灵敏度损失。
Orbitrap Exploris 120 质谱仪在更小的仪器体积内实现了更好的性能,并通过 Thermo Scientific™ 数据采集软件实现了简单、一致的用户体验。 Orbitrap Exploris 120 质谱仪具有好的稳健性,为用户提供更长的仪器运行时间,保证结果产出效率。该仪器。Orbitrap Exploris 120系统通过全新的设计,实现了体积更小的同时具有无与伦比的性能表现!
赛默飞液质联用仪 Orbitrap Exploris™ 120的工作原理介绍
液质联用仪 Orbitrap Exploris™ 120的使用方法?
赛默飞 Orbitrap Exploris™ 120多少钱一台?
液质联用仪 Orbitrap Exploris™ 120可以检测什么?
液质联用仪 Orbitrap Exploris™ 120使用的注意事项?
赛默飞 Orbitrap Exploris™ 120的说明书有吗?
赛默飞液质联用仪 Orbitrap Exploris™ 120的操作规程有吗?
赛默飞液质联用仪 Orbitrap Exploris™ 120报价含票含运吗?
赛默飞 Orbitrap Exploris™ 120有现货吗?
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赛默飞半导体全产业链解决方案
半导体行业是国民经济支柱性产业之一,多个“十四五”相关政策均将集成电路列入重点发展项目。随着芯片制程从微米进入到纳米时代,逐渐达到半导体制程设备和制造工艺的极限,细微的污染都可能改变半导体的性质,对于产线的良率管理和提升成为半导体工业界面临的重要挑战! 赛默飞作为科学服务领域的领导者,可为半导体行业关键环节提供多层次技术支撑,领先的离子色谱、电感耦合等离子体质谱仪、气质联用仪和液质联用仪等技术可为半导体支撑材料、晶圆制造以及下游应用提供痕量离子态杂质、痕量金属杂质、有机态杂质及材料研发等提供稳健可靠的分析方法,助力全面提升产品良率!
半导体
2023/07/11
企业名称
赛默飞色谱质谱及痕量元素分析
企业信息已认证
企业类型
信用代码
成立日期
2003-12-01
注册资本
经营范围
赛默飞色谱与质谱
公司地址
上海市浦东新区新金桥路27号3& 6& 7号楼
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