Nanoman VS 系统基于若干成熟技术：DimensionTM 架构、先进的 Hybrid XYZ 扫描器以及最新的NanoScope V 控制器，因而成为卓越的高分辨成像显微镜、高精度的纳米刻蚀手段以及最直观的纳米尺度操纵工具。
该系统的 Hybrid XYZ 扫描器将Z传感器噪音降低6倍，同时，其拥有高精度的 X/Y控制以确保分子级的纳米操纵；拥有准确的三向闭环控制尤其适合于分子生物"拉伸"技术。
该系统集成的全新 NanoScope V 控制器确保了可靠、高速的数据采集能力，采集空间可达 5000×5000 的高象素密度。因而研究人员可以在之前的 SPM 技术中是无法实现的时间分辨内记录和分析针尖——样品相互作用。这种划时代的控制器设计允许同时采集和显示多达8个通道的图形和数据；支持强大的软件功能性和通用性；支持 Easy－AFM 这简约的图形化用户界面软件，尤其适合于初学者以及经常重复同一模式、同一类操作的用户。
