ossila四点探针台

Ossila 四点探针系统是一种易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。

Ossila四点探头以高规格的Ossila源测量单元 为核心，可实现广泛的测量范围。探头使用弹簧加载的触点而不是锋利的针头，防止损坏易碎的样品，例如厚度为纳米量级的聚合物薄膜。包括一个四点探头、内置源测量单元、易于使用的 PC 软件和 ITO 镀膜玻璃基板。

一．含义

四点探针台是测量材料薄层电阻最常用的设备。薄层电阻是材料的电阻率除以其厚度，通过导电/半导体材料的薄方块表示横向电阻。该测量使用排列成一条线的四个探头，每个探头之间的间距相等。电流在外部两个探头之间传递，导致内部两个探头之间的电压降低。通过测量电压的变化，可以计算出薄层电阻。

二．主要特点

1.宽电流范围：四点探头能够提供 1 μA 至 200 mA 的电流，并且可以测量低至 100 μV 至 10 V 的电压。该系统可以测量 100 mΩ/平方米  至 10 MΩ/平方米  范围内的薄层电阻，从而能够表征各种材料。

2.易于使用：只需插入系统，安装软件即可使用。直观的界面和简洁的设计使四点探头易于使用，简化了薄层电阻的测量。可以使用各种形状和尺寸的基板。

3.高精度：可以使用PC软件进行正极性和负极性测量。这使您能够计算正电流和负电流之间的平均薄层电阻 - 消除可能发生的任何电压偏移，从而提高测量精度。

4.无损检测：四点式探头在设计时考虑了精密样品的测量，采用镀金、温和的弹簧加载触点和圆形尖端。这导致60克的恒定接触力，防止探头刺穿脆弱的薄膜，同时仍然提供良好的电接触。

5.节省空间的设计：通过仔细的设计考虑，我们已经能够将四点探头的占地面积保持在最小（总工作台面积为14.5 cm x 24 cm），即使在货架空间有限的繁忙实验室中也可以使用。

6.快速材料表征：PC软件（随系统提供）可执行薄层电阻、电阻率和电导率的所有必要测量和计算，使材料表征变得毫不费力。它还会自动执行校正因子计算。

配备软接触式探头

Ossila 四点探头系统通过三个功能减少了损坏脆弱薄膜的可能性。用于接触的探头具有圆形尖端（与其他探头不同，探针像锋利的针头）。这些圆形尖端的半径为0.24 mm，使探针的接触表面积比针头大，因此分散了施加在样品上的向下力。这些探头镀金并安装在弹簧上，以鼓励电接触而不会用力过大，因为它使它们在与样品接触时能够缩回探头头中，以确保施加 60 克的均匀力。探头的示意图如下图所示。探头可以在这里 单独购买。

请注意，此系统不适用于硅或其他自然形成绝缘氧化层的材料。为了测量此类材料，需要通过探头穿透氧化层，而该系统使用的弹簧加载的圆形尖端探头可能无法做到这一点。

三．应用

薄层电阻是材料的重要特性，通常用于材料表征和薄膜器件的开发，如钙钛矿太阳能电池或有机LED。

1.材料表征：电阻率是材料的固有特性，也是重要的电性能。它可以通过测量已知厚度薄膜的薄层电阻来确定，这使得四点探头测量成为材料电气表征的关键技术。

2.薄膜太阳能电池和LED：薄膜器件需要横向传输电荷的薄导电电极才能提取，因此需要具有低薄层电阻的材料来减少潜在损耗。当试图扩大这些设备的规模时，这一点变得更加重要，因为电荷必须沿着电极进一步传播才能被提取。

四．规格