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薄膜应力测试仪

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共 35 台薄膜应力测试仪
速普仪器【SuPro】薄膜应力测试仪FST 5000

速普仪器【SuPro】薄膜应力测试仪FST 5000

参考报价 ¥60万
kSA MOS TS 薄膜热应力测试仪

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参考报价 ¥50万 - 80万
美国FSM薄膜应力测试仪

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参考报价 面议
kSA MOS UltraScan 薄膜应力测试仪

kSA MOS UltraScan 薄膜应力测试仪

  • kSA MOS UltraScan
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薄膜应力测试仪/FLX-2320-R/日本Toho

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kSA MOS 原位薄膜应力仪

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硅片平坦度量测仪

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  • FLA-200
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薄膜厚度测量仪F40

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日本Toho薄膜应力测试仪FLX-2320-S

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薄膜应力测试仪/晶圆翘曲应力测量仪

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参考报价 ¥39万 - 54万
桌上型手动晶圆厚度测量系统

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  • UltraMap-BP1
  • 暂无
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桌上型膜厚分析系统

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  • TohoSpec 3100
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2D双折射测试系统 (SiC晶体内部缺陷检测)

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  • PA-300
  • 暂无
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宽范围2D双折射测量系统

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  • WPA-300
  • 暂无
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薄膜应力测试仪/晶圆翘曲应力测量仪

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  • MKW-3800
  • 暂无
参考报价 ¥39万 - 54万
全自动膜厚及TSV测量仪

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  • FilmTek™ 2000M-TSV
  • 暂无
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桌上型自动晶圆厚度测量系统

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  • UltraMap-200B
  • 暂无
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桌上型手动双气压探頭厚度/TTV测量仪

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  • UMM-BP2
  • 暂无
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薄膜厚度量测分析仪

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  • TIM-10/30TFV
  • 暂无
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半自动薄膜量测分析仪

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  • TIM-10TFV-SR
  • 暂无
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半自动高速椭偏仪

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  • ME-210
  • 暂无
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单点高速椭偏仪

单点高速椭偏仪

  • SE-101
  • 暂无
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日本Toho/薄膜应力测试仪/FLX-2320-S

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  • FLX-2320,FLX-3300T
  • 暂无
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高分辨率微区光谱折射率测试仪

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  • FilmTek™ 4000
  • 暂无
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薄膜热导率测试系统(TCT-3)

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  • MKW-2800
  • 暂无
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薄膜应力测试仪/非接触式全自动曲率

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  • MKW-3233
  • 暂无
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Semert薄膜穿破仪BPDY-88

Semert薄膜穿破仪BPDY-88

  • BPDY-88
  • 暂无
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多角度分光光谱临界尺寸测量仪

多角度分光光谱临界尺寸测量仪

  • FilmTek™ CD
  • 暂无
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晶圆级半自动薄膜厚度量测分析仪

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  • TIM-10/30TFV-MSXG
  • 暂无
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海达仪器HDV-001 隔膜材料强度试验仪

海达仪器HDV-001 隔膜材料强度试验仪

  • 海达仪器HDV-001 隔膜材料强度试验仪
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共 35 条

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分类小贴士

薄膜应力测试仪是一种用于测试薄膜材料内部的残余应力的设备。在制备或处理薄膜材料时,由于各种因素的影响,薄膜的内部会存在残余应力,这种应力可能会导致膜的变形、裂纹、破裂等问题。因此,测试和控制薄膜内部的残余应力对于薄膜材料的制备和加工具有重要意义。 薄膜应力测试仪主要通过对薄膜样品进行机械弯曲或扭转,测量在不同位置处的膜表面的几何形态变化,通过计算得到样品内部残留应力的大小和方向。在测试过程中,需要特别注意实验条件的控制,如温度、湿度等,以保证测试结果的准确性和可重复性。

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