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矽弼半导体

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PXB系列

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中国大陆

  • 银牌
  • 第1年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

PXB-S系列探针台

     


PXB-S系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜和体式显微镜

●载物台可Z轴升降

●载物台Theta可粗调360°,  微调±7 °

●载物台XY移动分辨率为1um。

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●显微镜支架万向杆


PXB-S系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试



PXB-M系列探针台

        

PXB-M系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜, 体式显微镜或金相显微镜

●载物台可Z轴升降

●载物台Theta可粗调360°,  微调±7 °

●载物台XY移动分辨率为1um

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●稳定型显微镜桥架, 移动分辨率为2um, 显微镜气动升降


PXB-M系列探针台应用领域


●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试








PXB-E系列探针台

        

PXB-E系列探针台主要特点


●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜, 体式显微镜或金相显微镜

●载物台气浮快速移动

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●稳定型显微镜桥架, 移动分辨率为2um, 显微镜气动升降

●Platen 三阶抬杆, 微调移动行程为40mm,抬杆重复性精度为2um


PXB-E系列探针台应用领域


●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试







PXB-BE系列探针台


PXB-BE系列探针台主要特点


●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜, 体式显微镜或金相显微镜

●载物台气浮快速移动, 三档控制,X轴独立控制,Y轴独立控制,XY同步控制,XY同步控制

●可选配高压高流测试环境

●快速装片并可任意位置锁定功能

●稳定型显微镜桥架, 移动分辨率为2um, 显微镜气动升降

●Platen 二阶抬杆, 微调移动行程为60mm,

抬杆重复性精度为1um

●配置独立控制压力阀


PXB-BE系列探针台应用领域


●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试




PXB-BET系列探针台

          


PXB-BET系列高低温探针台主要特点


●搭配高低温系统, 最大范围-65℃到300℃

●可选直筒显微镜, 体式显微镜或金相显微镜

●载物台气浮快速移动, 三档控制,X轴独立控制,Y轴独立控制,XY同步控制,XY同步控制

●可选配高压高流测试环境

●装片拉出装置, 定位锁住

●稳定型显微镜桥架, 移动分辨率为2um, 显微镜气动升降

●Platen 二阶抬杆, 一次性行程为6mm, 抬杆重复性精度为1um, 四点同步

●配置独立控制气流阀



PXB-BET系列高低温探针台应用领域


●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析)

 ●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●Solar太阳能领域检测分析

●LED 、OLED 、LCD领域检测分析

●PCB领域检测分析

●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试


PXB-D系列探针台

PXB-D系列探针台主要特点

●可选配高温测试环境

●可选直筒显微镜,体式显微镜 

●载物台气浮快速移动 

●可选配高压高流测试环境

●platen上下结构,可正反面同时扎针 

载物台双面镂空,可替换,一个镂空夹具,一个 载物台(两个吸附孔)

●背置式直筒显微镜,zoom为0.58-7.5x 

●Platen 微调行程为40mm,移动分辨率为1um, 四点同步


PXB-D系列探针台应用领域

●Failure analysis 集成电路失效分析

●Wafer level reliability 晶元可靠性认证

●Device characterization 元器件特性量测

●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) 

●IC Process monitoring 制成监控

●Package part probing IC封装阶段打线品质测试

●ESD&TDR testing  ESD和TDR测试

●Microwave probing 微波量测(高频测试)

●PCB领域检测分析

    


PXB-W系列探针台

PXB-W系列探针台主要特点

●可选配110Ghz,220Ghz等测试环境 

●搭配高低温系统,最大范围-65℃到300℃ 

●可选直筒显微镜,体式显微镜或金相显微镜 

●载物台气浮快速移动,三档控制,X轴独立控制, Y轴独立控制,XY同步控制,XY同步控制 

●装片拉出装置,定位锁住 

●稳定型显微镜桥架,移动分辨率为2um,显微镜 气动升降 

●Platen 二阶抬杆,一次性行程为6mm,抬杆重复 性精度为1um,四点同步 

●配置独立控制气流阀


PXB-W系列探针台应用领域

●Microwave probing 微波量测(高频测试)




PXB-PL系列探针台

        

PXB-PL系列探针台(定制型)

针对PCB&LCD&OLED&MINI-LED研发的测试探针台

主要客户:英业达,沪利,深南电路,美维,奥克斯,大金,龙腾光电,群策等



PXB-VL系列探针台

  

PXB-VL系列探针台产品简介

PXB- VL高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极

端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的

IV/CV特性测试,射频测试 ,光电测试等。通过液氮或者压缩机制

冷 ,可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料 ,半

导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。



PXB-SA系列探针台

PXB-SA系列探针台产品简介

PXB-SA 系列探针台是一款在非真空条件下实现高低温环境的测试探针台。

该产品采用气冷制冷 ,自动控温 ,设备配置非常丰富。自带屏蔽暗

室 ,一方面可以屏蔽无线电磁干扰 ,另外一方面也可以保持氮气正

压环境下样品在低温时无结霜。该产品多数用于相关单位实验室。

PXB-SA系列探针台产品优势

可搭配高低温温控系统,温度范围为-60-300℃

可实现半自动测试

微腔屏蔽

售后服务承诺

产品货期: 150天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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矽弼半导体探针台PXB系列的工作原理介绍

探针台PXB系列的使用方法?

矽弼半导体PXB系列多少钱一台?

探针台PXB系列可以检测什么?

探针台PXB系列使用的注意事项?

矽弼半导体PXB系列的说明书有吗?

矽弼半导体探针台PXB系列的操作规程有吗?

矽弼半导体探针台PXB系列报价含票含运吗?

矽弼半导体PXB系列有现货吗?

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