HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪
HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪

¥100万 - 200万

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日立

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FT160

--

亚洲

  • 银牌
  • 第1年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪

      快速、准确地分析纳米级镀层

FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。

准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

FT160 的多毛细管光学元件可以测量小于 50 μm 的特征上的纳米级镀层,先进的检测

器技术可为您提供高精度,同时保持较短的测量时间。其他功能,例如大样品台、宽样

品舱门、高清样品摄像头和坚固的观察窗,可以轻松装载不同尺寸的物品并在大型基板

上找到感兴趣的区域。该分析仪易于使用,与您的 QA / QC 流程无缝集成,在问题危机

发生前提醒您。



HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品亮点

FT160 的光学和检测器技术专为微光斑和超薄镀层分析而设计,针对细小的特征进行了优化。

  • 用于从安全距离查看分析的大观察窗

  • 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 标准

  • IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性镀层检测

  • 用于快速样品设置的自动特征定位

  • 为您的应用优化的分析仪配置选择

  • 在小于 50 μm 的特征上测量纳米级镀层

  • 将传统仪器的分析通量提高一倍

  • 可容纳各种形状的大型样品

  • 专为长期生产使用的耐用设计



HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪产品对比


FT160

FT160L

FT160S


元素范围

Al – U

Al – U

Al – U

探测器

硅漂移探测器 (SDD)

硅漂移探测器 (SDD)

硅漂移探测器 (SDD)

X射线管阳极

W 或 Mo

W 或 Mo

W 或 Mo

光圈

多毛细管聚焦

多毛细管聚焦

多毛细管聚焦

孔径大小

30 μm @ 90% 强度(Mo tube)

35 μm @ 90% 强度(W tube)

30 μm @ 90% 强度(Mo tube)

35 μm @ 90% 强度(W tube)

30 μm @ 90% 强度(Mo tube)

35 μm @ 90% 强度(W tube)

XY轴样品台行程

400 x 300 mm

300 x 300 mm

300 x 260 mm

样品尺寸上限

400 x 300 x 100 mm

600 x 600 x 20 mm

300 x 245 x 80 mm

样品聚焦

聚焦激光和自动聚焦

聚焦激光和自动聚焦

聚焦激光和自动聚焦

测试点识别

?

?

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软件

XRF Controller

XRF Controller

XRF Controller



image.png


售后服务承诺

产品货期: 150天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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日立X荧光测厚仪FT160的工作原理介绍

X荧光测厚仪FT160的使用方法?

日立FT160多少钱一台?

X荧光测厚仪FT160可以检测什么?

X荧光测厚仪FT160使用的注意事项?

日立FT160的说明书有吗?

日立X荧光测厚仪FT160的操作规程有吗?

日立X荧光测厚仪FT160报价含票含运吗?

日立FT160有现货吗?

HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪信息由深圳市泰斯特尔系统科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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