X射线荧光材料分析及镀层测厚仪

XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍：

  XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线： XAN®500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。

产品特点：

通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准

重量1.9 kg

一次电池充电可持续运行6个小时

测量点：3毫米Ø

高分辨率硅漂移检测器

用于户外的IP54等级

用作台式设备的可选测量箱；

使用完整版WinFTM®软件进行数据统计

产品应用：

应用

● 在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）

● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。

● 将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可精确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。

● 还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控

产品使用：

测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件

一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）

未知合金的无标准片测量

大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量

电镀层的测试

电镀液金属含量的分析