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共 206 台探针台
探针台|英铂探针台|极低温闭循环真空探针台 (CPS-50)

探针台|英铂探针台|极低温闭循环真空探针台 (CPS-50)

  • 极低温闭循环真空探针台 (CPS-50)
  • 暂无
参考报价 ¥10万
探针台|MPI半自动探针台TS3000探针台

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  • TS3000
  • 暂无
参考报价 ¥80万
美国 Cascade EPS探针台

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参考报价 ¥50万 - 100万
探针台|MPI探针台 TS2000-SE探针台

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  • MPI TS2000-SE
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参考报价 ¥100万 - 200万
探针台|MPI探针台TS300-SE手动探针台

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  • TS300-SE
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参考报价 ¥50万
探针台|MPI手动探针台TS150-AIT & TS200-THZ探针台

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  • TS150-AIT & TS200-THZ
  • 暂无
参考报价 ¥50万
MPI探针台|双面硅光测试|TS3000-DS

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  • TS3000-DS
  • 暂无
参考报价 $10万 - 60万
探针台|英铂科学 极低温开循环真空探针台 (LPS-50)

探针台|英铂科学 极低温开循环真空探针台 (LPS-50)

  • 极低温开循环真空探针台 (LPS-50)
  • 10.0 分 (1条评论)
参考报价 ¥10万
探针台|MPI探针台TS150-HP & TS200-HP高功率探针台

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  • TS150-HP & TS200-HP
  • 暂无
参考报价 ¥100万
探针台|MPI探针台TS2500全自动探针台

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  • TS2500
  • 暂无
参考报价 ¥100万
Lake Shore低温探针台

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  • 系列产品
  • 暂无
参考报价 面议
探针台|MPI高功率探针台TS3000-HP & TS3500-HP

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  • TS3000-HP & TS3500-HP
  • 暂无
参考报价 ¥100万
探针台|MPI高功率探针台TS2000-DP探针台

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  • TS2000-DP
  • 暂无
参考报价 ¥100万
探针台|MPI半自动探针台TS2000-IFE

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  • TS2000-IFE
  • 暂无
参考报价 ¥50万
美国ARS闭循环超导磁体探针台-PSG-SM

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  • PSG-SM
  • 暂无
参考报价 ¥100万 - 200万
SPC-120T 探针台冷热台

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  • SPC-120T
  • 暂无
参考报价 ¥5万 - 10万
探针台|MPI手动探针台TS150&TS200&TS300探针台

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  • TS150 & TS200 & TS300
  • 暂无
参考报价 ¥50万
探针台|MPI手动探针台TS150-THZ探针台

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  • TS150-THZ
  • 暂无
参考报价 ¥50万
探针台|MPI手动探针台MPI TS50 探针台

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  • MPI TS50 探针台
  • 暂无
参考报价 ¥50万
美国ARS低温闭循环真空探针台-PSF-10-4

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  • PSF-10-4
  • 暂无
参考报价 ¥50万 - 100万
CHP120A 探针台冷热台

CHP120A 探针台冷热台

  • CHP120A
  • 暂无
参考报价 ¥1万 - 3万
探针台|MPI探针台TS3000-SE半自动探针台

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  • TS3000-SE
  • 暂无
参考报价 面议
美国ARS超稳超低振动低温探针台‐PS‐NS‐10‐4

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  • PS‐NS‐10‐4
  • 暂无
参考报价 ¥50万 - 100万
泽攸科技SEM纳米探针台

泽攸科技SEM纳米探针台

  • SEM纳米探针台
  • 暂无
参考报价 面议
探针台|MPI探针台TS2000-HP高功率探针台

探针台|MPI探针台TS2000-HP高功率探针台

  • TS2000-HP
  • 暂无
参考报价 面议
探针台|MPI探针台|手动8英寸高温探针台

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  • TS200/TS300/TS200L
  • 暂无
参考报价 ¥100万 - 200万
探针台|MPI探针台|6英寸手动F直流高低温探针台

探针台|MPI探针台|6英寸手动F直流高低温探针台

  • TS150
  • 暂无
参考报价 ¥50万 - 100万

共 206 条

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分类小贴士

探针台(Probe Station)是一种测试半导体器件的仪器,它通常用于测试微型芯片和其他电子元件的电学性能和可靠性。探针台包括一个平台和一组可以通过微控制移动的微型探针。这些微型探针可以精确地测量微型芯片上的电信号,并将测试结果传输到计算机中进行分析。 通过使用探针台,研究人员和工程师可以测试和评估半导体器件的电学性能,如电阻、电容、电流、电压等参数。探针台还可用于测试微型芯片的操作温度范围、噪声水平和信号完整性等方面。此外,探针台还可用于对不同尺寸、形状和材料的半导体器件进行测试,为新产品设计和优化提供关键信息。

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