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探针台（Probe Station）是一种测试半导体器件的仪器，它通常用于测试微型芯片和其他电子元件的电学性能和可靠性。探针台包括一个平台和一组可以通过微控制移动的微型探针。这些微型探针可以精确地测量微型芯片上的电信号，并将测试结果传输到计算机中进行分析。 通过使用探针台，研究人员和工程师可以测试和评估半导体器件的电学性能，如电阻、电容、电流、电压等参数。探针台还可用于测试微型芯片的操作温度范围、噪声水平和信号完整性等方面。此外，探针台还可用于对不同尺寸、形状和材料的半导体器件进行测试，为新产品设计和优化提供关键信息。
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