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使用本公司独创的光子晶体技术开发的偏光滤光片集成元件，可以即时、高密度地获取通过转动偏光滤光片获得的信息。
通过将透过透明材料的光进一步通过该集成元件并获取它，可以评估用于掩模的玻璃晶片的加工变形和复合晶片的缺陷密度。
◆相位差/内部失真的定量评估 ◆数秒钟内获得 100 万个平面内分布
◆支持从微米到毫米的测量尺寸 ◆支持高相位差测量范围
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 1人
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 免费维护
报修承诺: 电话联系后尽快安排日程
Photonic Lattice偏振仪PA/WPA系列的工作原理介绍
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