FEI Apreo扫描电镜

FEI扫描电子显微镜

Apreo 材料科学应用

功能最为丰富的高性能 SEM

Apreo 性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。

Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供卓越的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的最大样品仓压力为 500 Pa，可以对要求最严苛的绝缘体进行成像。

通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。

体验 Apreo SEM 带来的优势

·  独有的复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。 

·  作用极大的背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。 

·  无比灵活的探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。

·  各种各样的电荷缓解策略，包括样品仓压力最高为 500 Pa 的低真空模式，可实现任何样品的成像。

·  卓越的分析平台提供高电子束电流，而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系统。

·  样品处理和导航极其简单，具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。

·  通过高级用户指导、预设和撤消功能为新用户提供专家级结果。

Apreo FAQ

1，在切换到低真空模式之前，是否需要插入GAD探测器？

低真空模式可在没有安装任何配件的情况下使用。可达到的压力范围将达到 50 Pa。使用压力限制孔 (PLA)，如气体分析探测器 (GAD)，结果将进一步改善。此外，借助 GAD，压力最高可以达到 500 Pa。

2，浸没透镜的“选配”是什么意思？

配置系统时不需要浸没透镜，如果安装，也不需要使用。每个 Apreo 可在 1 kV 下实现 1.3 nm 分辨率。通过安装和激发浸没透镜，可在 1 kV 下提高到 1.0 nm。此外，还提供了额外的复合透镜过滤功能。

3，静电镜筒关闭时，您可以使用浸没吗？

原则上来说没有。加速管和浸没透镜均打开时可以获得最佳效果。没有仅用于浸没的明确使用情况。默认情况下，Apreo 在操作时开启加速管，在必要时开启浸没。

4，镜筒内探测器（T1、T2、T3）是否能在TV速率下工作？

是的，可以工作。

5，您说在倾斜样品上不可能实现电子束减速。为什么？

电子束减速 (BD) 在样品和极片之间形成了一个静电场。使用倾斜的样品，场线将成一定角度，这会在图像中导致歪曲。这也发生在具有较大地形特征的样品上。因此，即使 BD 是一个非常有用的功能，并且是 Apreo 的标配功能，它也不能在所有情况下使用。因此，Apreo 不依靠 BD 来实现其分辨率。对于浸没系统，在不使用 BD 时，在 1 kV 下的分辨率为 1.0 nm，在不使用浸没透镜时，在 1 kV 下的分辨率为 1.3 nm。

FEI扫描电镜信息由北京亿诚恒达科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于FEI扫描电镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

Apreo扫描电镜，功能最为丰富的高性能 SEM。

Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。

Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针，以提高低电压下的分辨率，并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜，不但提高了分辨率，还增加了特有的信号过滤选项。静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm（无电子束减速或单色器）。

Apreo 拥有透镜内背散射探测器 T1，其位置紧靠样品以便尽可能多地收集信号，从而确保在很短的时间内采集数据。与其他背散射探测器不同，这种快速的探测器始终可保证良好的材料对比度，在导航时、倾斜时或工作距离很短时也不例外。在敏感样品上，探测器的价值凸现出来，即使电流低至几 pA，它也能提供清晰的背散射图像。复合末级透镜通过能量过滤实现更准确的材料对比度以及绝缘样品的无电荷成像，进一步延伸了 T1 BSE 探测器的潜在价值。它还提供了流行选项来补充其探测能力，例如定向背散射探测器(DBS)、STEM 3+ 和低真空气体分析探测器 (GAD)。所有这些探测器都拥有的软件控制分割功能，以便根据需求选择最有价值的样品信息。

每个 Apreo 都按标准配备各种用以处理绝缘样品的策略，包括：高真空技术，例如 SmartSCAN™、漂移补偿帧积分(DCFI) 和电荷过滤。对于最有挑战性的应用，Apreo 可提供电荷缓解策略。其中包括可选的低真空（为 500 Pa）策略，通过经现场验证的穿镜式差分抽气机构和专用低真空探测器，不但可以缓解任何样品上的电荷，还能提供的分辨率和较大的分析电流。

随着分析技术的使用越来越常规化，Apreo 仓室经过全新设计，以便更好地支持不同的配件和实验。仓室最多容纳三个 EDS/WDS 端口，可实现快速敏感的 X 射线测量、共面EDS/EBSD/TKD 排列并与（冷冻）CL、拉曼、EBIC 和其他技术兼容。

所有这些功能都能通过简单的样品处理和熟悉的 xT UI 获得，节省了新用户和专家级用户的时间。可自定义的用户界面提供了诸多用户指导、自动化和远程操作选项。