MSV-5000显微紫外可见近红外分光光度计
MSV-5000显微紫外可见近红外分光光度计

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日本分光计器

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MSV-5000

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亚洲

  • 银牌
  • 第9年
  • 一般经销商
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核心参数
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▼概要
MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过?反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过?反射特性的评价、半导体的能测量,计测膜厚、功能性结晶光学特性评价、色彩分析等领域

特点

可以测量从紫外区域到近红外区域连续的透过?反射光谱*1
 搭载具有高波长分辨率和波长准确性的单色器
 双光束光学系统优异测光稳定性
 测量领域尺寸最小φ10μm *2
 样品观测采用高解像度照相机画像
 标配偏光测量功能

搭载自XYZ样品台选项映射测量?多点测量
JASCO光谱管理器实现简单轻松的操作环境

   *1. MSV-5200/5300
   *2.
最小可测量尺寸根据测量条件?测量样品而不同

规格

MSV-5000

机种名

MSV-5100

MSV-5200

MSV-5300

分光器部

车尔尼特纳光学系统单单色器 双光速方式

光源

30W氘灯、 20W卤素灯

测量波长范围

200900nm

2002700nm

2001600nm

检测器

电子倍增

电子倍増管、冷却型PbS导电素子

电子倍増管、冷却型InGaAs光电二级管

测光方式

?反射测量

观察

高解像度照相机、光学放、内置ATOS、照明:LED

物鏡

対物卡塞格林10倍、16倍、32倍、可

集光鏡

集光卡塞格林10倍、16倍、32倍、可、集光镜自动调节功能

样品台

动台、自XYZ台(选项)、控制杆(选项

软件

JASCO光谱管理器    Ver.2.0

OS

Microsoft Windows7 Professional

标准程序

显微光谱测量(点测量显微画像保存)、显微光谱解析

动控制XYZ样品台

样品台移动、区域映射、线测量、多点测量显微固定波长成像测量
聚焦、多通道画像

  • 在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。 关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料

    材料 2023-06-05

  • 在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。 关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料

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  • 在本申请说明中,测量了具有两种晶轴的50μm单晶蓝宝石,并计算了折射率的色散。 关键词:MSV-5200紫外-可见/近红外显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料

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  • 测量厚度的光学方法适用于各种材料的研究和开发,如新型电介质和半导体涂层。这些方法的主要优点是提供无损和非接触的测量,以及从亚nm到!m的广泛测量范围。JASCO可以根据薄膜厚度、多层数和基材提供最合适的测量和分析方法

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  • 在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。 关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料

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  • 在本申请说明中,具有35μm宽的硅图案的样品以14μm的间隔排列在钛基板上。当硅在空气中被氧化时,形成SiO2膜,并在获得反射光谱后分析这些膜的厚度。 关键词:MSV-5200显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料

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  • 在本申请说明中,测量了具有两种晶轴的50μm单晶蓝宝石,并计算了折射率的色散。 关键词:MSV-5200紫外-可见/近红外显微分光光度计,VWML-791多层分析程序,材料

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典型用户
用户单位 采购时间
中国地质大学 2016-02-03
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其它光谱仪 MSV-5000的使用方法?

日本分光计器 MSV-5000多少钱一台?

其它光谱仪 MSV-5000可以检测什么?

其它光谱仪 MSV-5000使用的注意事项?

日本分光计器 MSV-5000的说明书有吗?

日本分光计器其它光谱仪 MSV-5000的操作规程有吗?

日本分光计器其它光谱仪 MSV-5000报价含票含运吗?

日本分光计器 MSV-5000有现货吗?

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