JEOL JMS-S3000 MALDI-TOF 雷射辅助基质离子螺旋飞行质谱仪
JEOL JMS-S3000 MALDI-TOF 雷射辅助基质离子螺旋飞行质谱仪

¥500万 - 600万

8.0

日本电子

暂无样本

JMS-S3000

--

亚洲

  • 银牌
  • 第13年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

仪器种类: TOF

产地类别: 进口

适用领域: 通用型

分辨率: 1 ppm

灵敏度: 500 amol, S/N > 50

质量精确度: 10 ppm

为增强分辨率让飞行距离变的更长Spiral TOF 使用螺旋式设计,在较小的空间下可以达到最长飞行距离,从而可以分析到更高分辨率,分子量准确度也更高。

TOF-TOF(选配)
也可以加强分辨率及准确度选择二次串联螺旋飞行质谱TOF-TOF做结构分析双重质谱MS/MS

Linear TOF(选配)
可以做更高分子量如蛋白质

螺旋飞行质谱仪使用特殊离子化方式MALDI 基质辅助雷射脱附法(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)

■ Spiral TOF-TOF特点
1.高分子量,高解度,高准确度。
2.高精准选择离子单一同位素分析

  • 长距离飞行分辨率非常高

  • 由离子源到离子闸门距离15~17公尺

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3. 消除PSD衍生离子
4. 高能量碰撞诱导解离-20 keV 实验室瞬间碰撞能量HE-CID分离高活化能键结,自然单一碰撞重复性高。
5. 一次观察所有离子
6. 可以测到 m/z几乎大分子物质都可用Spiral Mass
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相关方案

  • PEALD制程中超威量水的残留量对薄膜特性极为重要。它影响薄膜结构、质量、化学反应速率和最终性能。调整水的残留量通常使用气体流量、温度和压力等参数,但超威量水分难以检测(ppb~ppt)。因此,TDS热脱附分析方法对于检测H2O水份至关重要,提供ppb~ppt级别的检测极限,帮助制程工程师实现薄膜控制和质量要求。

    电子/电气 2023-11-10

  • PEALD制程中超威量水的残留量对薄膜特性极为重要。它影响薄膜结构、质量、化学反应速率和最终性能。调整水的残留量通常使用气体流量、温度和压力等参数,但超威量水分难以检测(ppb~ppt)。因此,TDS热脱附分析方法对于检测H2O水份至关重要,提供ppb~ppt级别的检测极限,帮助制程工程师实现薄膜控制和质量要求。

    电子/电气 2023-11-10

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 可多人培训上岗

免费仪器保养: 6个月一次

保内维修承诺: 免费

报修承诺: 24小时响应

问商家

日本电子生物质谱JMS-S3000的工作原理介绍

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