Semilab – Sopra椭偏仪
Semilab – Sopra椭偏仪

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Semilab – Sopra椭偏仪

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欧洲

  • 金牌
  • 第18年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

产地类别: 进口

仪器简介:

应用:
◆ 薄膜厚度、n值及k值的测量,可应用于任何薄膜生长或者镀膜工艺的监控。



技术参数:

Sopra公司是世界上最知名的椭偏仪设备供应商,其高精度的椭偏仪在半导体、化合物半导体(GaAs/SiC)、LCD及MEMS领域有着非常广泛的应用。目前,全世界有超过500台的Sopra椭偏仪应用于各个行业。



主要特点:

◆ 高精度的薄膜测量(膜厚、n值、k值);
◆ 全世界第一家宽光谱椭偏仪技术的发明者;
◆ VLSI及其他的测试标准均由Sopra标第;
◆ 强扩展性:Fast UV VIS CCD 模式,高分辨率DUV-VIS模式及FTIR/4PP功能。

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