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新型的全自动薄膜测量分析工具，工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
技术参数：
·光谱范围：450-1000 nm
·多种微光斑自动选择
·光斑可视技术，可观测任何样品表面
·CCD探测器
·自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm
·70度角入射
主要特点：
·自动化设计，一键式操作，直接报告输出
·液晶调制技术，测量光路中无运动部件
·CCD探测系统，快速全谱输出
·多个微光斑尺寸选择，可视技术
·封闭式样品仓
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 2人次技术中心高级培训
免费仪器保养: 一年1次
保内维修承诺: 免费维修，消耗品除外
报修承诺: 24小时到达现场
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