曝光分析仪
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OAI

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Model 659

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美洲

  • 银牌
  • 第8年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

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45年来,OAI始终是紫外能量测试仪器领域的全球领导者,其仪器用于半导体、微机电系统、晶圆封装和晶圆植球行业中光刻工艺的可靠,精确校准控制。

Model 659是款手持式紫外功率计,配有触摸屏和 USB 接口。通过使用特殊探头(365nm、400nm、420nm 和 436nm),可以测量主要用于步进应用的宽范围波长。


             ●  多达400个曝光参数

             ●  以太网和USB接口,用于下载记录的测量值

             ●  强度范围达7500mW/cm2

             ●  强度分辨率:0.01mW/cm2

             ●  探头波长:365nm、400nm、420nm、436nm



Model 659 型曝光分析仪,与晶圆步进光刻机配合使用,专为Ultratech Stepper等高强度光刻设备而设计(读数高达7500mW/cm2,1000000mJ/cm2'',最长9999秒)。可选择探头光谱响应:365nm、400nm、420nm或436nm.


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        OAI拥有完整的认证校准实验室,以确保仪器的性能,质量,和可靠性。Model 659 可追溯至NIST标准。

        


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售后服务承诺

产品货期: 7天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

安装调试时间: 到货后7天内

电话支持响应时间: 2小时内

是否提供维保合同:

维修响应时间: 1天内

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OAI照度计Model 659的工作原理介绍

照度计Model 659的使用方法?

OAIModel 659多少钱一台?

照度计Model 659可以检测什么?

照度计Model 659使用的注意事项?

OAIModel 659的说明书有吗?

OAI照度计Model 659的操作规程有吗?

OAI照度计Model 659报价含票含运吗?

OAIModel 659有现货吗?

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