谱量光电PLCTS综合分析测试探针台THCK-08
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谱量光电

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THCK-08

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中国大陆

  • 银牌
  • 第1年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

表面综合分析测试探针台产品简介

·整体集成度高,且测试方便简单,底座行程大,弥补了基础型的缺陷,可以满足多种测试应用,且可以升级射频探针台;优点:高性价比,应用面广,稳定性高;应用:一般用在高校/研究所科研实验是居多,以及科研型单位研发部;


表面综合分析测试探针台产品优势

  • 两边半圆形探针架,可以放置最多6个探针座,且方便放置探针卡集成4路吸附开关,方便吸附;

  • 可用于12寸以内样品测试XY行程115mmX115mm,Z轴调节10mm,360°旋转粗调+士5°精调;

  • 1微米以上电极/PAD使用;

  • 可用于硅封装的内部观测和光谱特性分析,需要红外光源和红外摄像机;

  • 有效像素2000万,有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照录像,也可以连接电脑;

  • HDMI输出支持: 1280*1024 (默认)、1680X1050、1440*900;

  • 选用2X,5X,10X,20X,50X四种物镜,工作距离分别是: 34.6mm,45mm,34mm;30.8mm,20.5mm,鼻轮支架带五孔鼻轮

  • 集成高精度高稳定性手动位移台,XYZ行程50mm,精度1um;

  • 整体交叉滚珠导轨,超高精度,超高稳定性;

  • 最大电压 1400V,阻抗 50 欧姆XYZ 轴行程分别是 13mm行程;

  • 位移放置:XYZR四轴调节XY行程115X115mm,Z轴调节10mm,360°旋转粗调+士5°精调;

  • 整体位移精度1um; 

表面综合分析测试探针台模块介绍

综合表面分析测试探针台2.jpg

表面综合分析测试探针台通用参数


样品台尺寸
8英寸
样品台行程
XY行程115X115mm,Z轴调节10mm,360°旋转粗调+士5°精调 
整体位移精度
1μm(可定制)
光学放大倍数
270倍高清(体式显微镜)
漏电精度
100fA
针座精度
3μm(可升级1μm/0.5μm)
接口形式
BNC/三同轴接口
背电极
可引出背电极
针座数量
标配2个(可升级到6个)

产品应用

多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等

产品示意图

综合探针台5.jpg

综合表征分析白底图.jpg

谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。

售后服务承诺

产品货期: 14天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

电话支持响应时间: 24小时内

是否提供维保合同:

节假日是否提供上门服务:

核心零部件货期: 7天

是否提供免费应用支持:

维修付款方式: 先维修后付款

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谱量光电探针台THCK-08的工作原理介绍

探针台THCK-08的使用方法?

谱量光电THCK-08多少钱一台?

探针台THCK-08可以检测什么?

探针台THCK-08使用的注意事项?

谱量光电THCK-08的说明书有吗?

谱量光电探针台THCK-08的操作规程有吗?

谱量光电探针台THCK-08报价含票含运吗?

谱量光电THCK-08有现货吗?

谱量光电PLCTS综合分析测试探针台THCK-08信息由南京谱量光电为您提供,如您想了解更多关于谱量光电PLCTS综合分析测试探针台THCK-08报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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